[发明专利]阵列基板及显示装置

说明书

一种阵列基板及显示装置，阵列基板包括：子像素(11)和数据线(12)，均位于显示区域(B1)中且数据线(12)与子像素(11)电连接；数据信号传输线(13W，13V)，位于周边区域(B2)且与数据线(12)电连接；测试电路(14)，位于周边区域(B2)中且位于数据信号传输线(13W，13V)远离显示区域(B1)的一侧，测试电路(14)包括第一部分(141)和第二部分(142)，第一部分(141)和第二部分(142)分别包括至少一个测试子电路，至少部分测试子电路与数据信号传输线(13W，13V)电连接；第一信号接入端组(15)，位于周边区域(B2)且位于第一部分(141)远离第二部分(142)的一侧；第二信号接入端组(16)，位于周边区域(B2)且位于第一部分(141)与第二部分(142)之间；第三信号接入端组(17)，位于周边区域(B2)且位于第二部分(142)远离第一部分(141)的一侧。有助于保证显示产品的画面检测正常进行。

技术领域

本申请涉及显示技术领域，特别涉及一种阵列基板及显示装置。

背景技术

随着阵列基板尺寸的增大，在阵列基板的显示区域之外的信号传输线的长度和阻抗也随之增大。在用于传输测试信号的信号传输线的阻抗过大时，阵列基板基于测试信号所显示的画面将会出现异常，使得画面检测无法正常进行。

发明内容

本申请实施例提供一种阵列基板及显示装置，本申请的技术方案如下：

一方面，提供一种阵列基板，包括：

衬底基板，包括显示区域和至少位于所述显示区域一侧的周边区域；

多个子像素，位于所述显示区域中；

多条数据线，位于所述显示区域中，且与所述多个子像素电连接；

多条数据信号传输线，位于所述周边区域中且与所述多条数据线电连接；

测试电路，位于所述周边区域中，且位于所述多条数据信号传输线远离所述显示区域的一侧，所述测试电路包括间隔的第一部分和第二部分，所述第一部分和所述第二部分分别包括至少一个测试子电路，至少部分所述测试子电路中的每个与至少两条所述数据信号传输线电连接；

第一信号接入端组，位于所述周边区域中，且位于所述第一部分远离所述第二部分的一侧；

第二信号接入端组，位于所述周边区域中，且位于所述第一部分与所述第二部分之间；

第三信号接入端组，位于所述周边区域中，且位于所述第二部分远离所述第一部分的一侧；

其中，所述第一信号接入端组、所述第二信号接入端组和所述第三信号接入端组中的每个与所述第一部分和所述第二部分中的至少一个电连接。

可选地，所述第一信号接入端组与所述第一部分电连接，所述第二信号接入端组分别与所述第一部分和所述第二部分电连接，所述第三信号接入端组与所述第二部分电连接。

可选地，所述阵列基板还包括：

位于所述周边区域中的第一连接导线组、第二连接导线组和第三连接导线组；

所述第一信号接入端组通过所述第一连接导线组与所述第一部分电连接，所述第二信号接入端组通过所述第二连接导线组与所述第一部分和所述第二部分电连接，所述第三信号接入端组通过所述第三连接导线组与所述第二部分电连接。

可选地，所述多个子像素中的至少一个包括薄膜晶体管；

所述薄膜晶体管包括位于所述衬底基板上的有源层，位于所述有源层远离所述衬底基板一侧的栅极，以及位于所述栅极远离所述衬底基板一侧的源极和漏极；

所述第一连接导线组、所述第二连接导线组和所述第三连接导线组均与所述源极位于同一层。