[发明专利]水栓零件

权利要求书

1.一种水栓零件，

具备：金属基材；

及在所述金属基材表面上局部形成的镀层，其特征在于，

所述金属基材含有选自铜、锌及锡中的至少1种的金属元素，

所述镀层含有选自铬及镍中的至少1种的金属元素，

在所述镀层的表面上存在钝化层，在所述钝化层的表面还配置有有机层，所述有机层为自组装单分子膜，

所述有机层通过构成所述钝化层的金属元素M介由氧原子O与选自膦酸基、磷酸基及次膦酸基中的至少1种的基X的磷原子P键合，即M-O-P键，而与所述钝化层键合，且基X与基R键合，其中R为烃基或烃基内的1或2处上具有碳以外的原子的基，

所述金属基材上未形成镀层的部分的表面的磷原子浓度比设置于镀层之上的有机层的表面的磷原子浓度低。

2.根据权利要求1所述的水栓零件，其特征在于，通过X射线光电子能谱法即XPS，由依照条件1进行测定的P2p能谱的峰面积计算的在所述金属基材上未形成镀层的部分的表面的磷原子浓度低于检测下限，

条件1，

X射线条件：单色化AlKα射线，输出25W，

光电子出射角：45°，

分析区域：100μmφ，

扫描范围：15.5-1100eV。

3.根据权利要求1或2所述的水栓零件，其特征在于，未形成镀层的部分为通水道或螺纹部。

4.根据权利要求1或2所述的水栓零件，其特征在于，所述金属基材由合金构成。

5.根据权利要求1或2所述的水栓零件，其特征在于，所述有机层中，R的一侧末端即并非为与X的键合端的一侧的端部，由C及H构成。

6.根据权利要求1或2所述的水栓零件，其特征在于，所述有机层中，X由膦酸构成。

7.根据权利要求1或2所述的水栓零件，其特征在于，所述有机层不含有氟原子。

8.根据权利要求1或2所述的水栓零件，其特征在于，通过X射线光电子能谱法即XPS，由依照条件1进行测定的P2p能谱的峰面积计算的在镀层上设置了有机层的部分的表面的磷原子浓度超过1.0at％且为10at％以下，

条件1，

X射线条件：单色化AlKα射线，输出25W，

光电子出射角：45°，

分析区域：100μmφ，

扫描范围：15.5-1100eV。

9.根据权利要求6所述的水栓零件，其特征在于，通过X射线光电子能谱法即XPS，由依照条件1进行测定的P2p能谱的峰面积计算的在镀层上设置了有机层的部分的表面的磷原子浓度超过1.0at％且为10at％以下，

条件1，

X射线条件：单色化AlKα射线，输出25W，

光电子出射角：45°，

分析区域：100μmφ，

扫描范围：15.5-1100eV。

10.根据权利要求1或2所述的水栓零件，其特征在于，通过X射线光电子能谱法即XPS，由依照条件1进行测定的C1s能谱的峰面积计算的在镀层上设置了有机层的部分的表面的碳原子浓度为35at％以上，

条件1，

X射线条件：单色化AlKα射线，输出25W，

光电子出射角：45°，

分析区域：100μmφ，

扫描范围：15.5-1100eV。

11.根据权利要求1或2所述的水栓零件，其特征在于，通过X射线光电子能谱法即XPS，由依照条件1进行测定的O1s能谱及金属能谱的峰面积计算的在镀层上设置了有机层的部分的表面的氧原子/金属原子浓度比即O/M比，为1.4以上，

条件1，

X射线条件：单色化AlKα射线，输出25W，

光电子出射角：45°，

分析区域：100μmφ，

扫描范围：15.5-1100eV。