[发明专利]加热烹调器在审
申请号: | 201980003783.X | 申请日: | 2019-06-20 |
公开(公告)号: | CN111052860A | 公开(公告)日: | 2020-04-21 |
发明(设计)人: | 藤涛知也;Z·拉菲;幸裕弘;贞平匡史;武平高志;野口新太郎 | 申请(专利权)人: | 松下知识产权经营株式会社 |
主分类号: | H05B6/12 | 分类号: | H05B6/12 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 邓毅;黄纶伟 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 加热 烹调 | ||
1.一种加热烹调器,其具有:主体,其具有顶板、加热部和加热控制部,该顶板载置收纳烹调物的容器,该加热部对所述容器进行加热,该加热控制部控制所述加热部的加热输出;以及温度检测模块,其具有温度检测部,该温度检测部从所述顶板的上方检测所述顶板上的温度分布,在该加热烹调器中,
所述加热控制部根据由所述温度检测部检测出的所述温度分布,进行所述加热输出的控制,
所述温度检测部具有分别检测温度信息的多个温度检测元件,
所述加热烹调器还具有温度分布校正部,该温度分布校正部根据所述顶板上的多个特定部分的所述温度信息,校正所述温度检测部检测出的所述温度分布。
2.根据权利要求1所述的加热烹调器,其中,
所述多个温度检测元件在俯视观察时配置成呈纵向和横向地排列的阵列状。
3.根据权利要求1或2所述的加热烹调器,其中,
所述温度分布校正部针对相同温度的所述多个特定部分,根据由所述多个温度检测元件检测的、所述多个特定部分的所述温度信息的差异,校正所述温度分布。
4.根据权利要求3所述的加热烹调器,其中,
所述温度分布校正部根据由所述多个温度检测元件检测的所述温度信息的差异,检测所述多个温度检测元件各自的检测区域的失真,根据检测出的所述失真校正所述温度分布。
5.根据权利要求1~4中的任意一项所述的加热烹调器,其中,
所述加热烹调器还具有温度调整部,该温度调整部对所述顶板的所述多个特定部分进行加热或冷却,
所述温度分布校正部根据被加热或冷却后的所述顶板的所述多个特定部分的所述温度信息,校正所述温度分布。
6.根据权利要求1~4中的任意一项所述的加热烹调器,其中,
所述加热线圈对所述顶板的所述多个特定部分进行加热,
所述温度分布校正部根据所述加热后的所述顶板的所述多个特定部分的所述温度信息,校正所述温度分布。
7.根据权利要求5或6所述的加热烹调器,其中,
所述被加热或冷却的所述多个特定部分在俯视观察时配置于与所述加热部的区域不同的区域。
8.根据权利要求1~4中的任意一项所述的加热烹调器,其中,
所述多个特定部分为载置在所述顶板上的、温度与环境温度不同的多个物体,
所述温度分布校正部根据所述多个物体的温度,校正所述温度检测部检测出的温度分布。
9.根据权利要求1~4中的任意一项所述的加热烹调器,其中,
该加热烹调器具有多个所述加热部,
所述多个特定部分是被多个所述加热部加热的、所述顶板上的所述容器。
10.根据权利要求1~4中的任意一项所述的加热烹调器,其中,
该加热烹调器还具有操作部,该操作部与所述加热控制部连接,进行加热量的设定,
所述多个特定部分是用户用来对所述操作部进行操作的多个工作区域。
11.根据权利要求4所述的加热烹调器,其中,
所述温度分布校正部根据所述失真,计算每个所述温度检测元件的温度校正系数,
所述加热烹调器具有存储部,该存储部存储有所述温度校正系数,
所述温度分布校正部使用所述存储部所存储的所述温度校正系数,校正所述温度分布。
12.根据权利要求11所述的加热烹调器,其中,
所述温度检测部在计算所述温度校正系数时,提高温度检测的增益。
13.根据权利要求1~12中的任意一项所述的加热烹调器,其中,
所述加热部具有加热线圈,该加热线圈产生感应磁场以对所述容器进行加热,
所述加热控制部向所述加热线圈供给高频电流,进行所述容器的加热。
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