[发明专利]自动分析装置在审
申请号: | 201980004701.3 | 申请日: | 2019-01-29 |
公开(公告)号: | CN112074744A | 公开(公告)日: | 2020-12-11 |
发明(设计)人: | 中野弘基;田上英嗣;铃木洋一郎;大草武德 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立高新技术 |
主分类号: | G01N35/00 | 分类号: | G01N35/00;G01F23/292;G01N35/10 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 俞丹;宋俊寅 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 自动 分析 装置 | ||
1.一种自动分析装置,其特征在于,包括:
试剂容器,该试剂容器收纳试剂;
射出部,该射出部设置于所述试剂容器的外部并且射出光以使得该光通过该试剂容器的内部;
受光部,该受光部设置于所述试剂容器的外部并接受来自所述射出部的光;以及
判断部,该判断部基于所述受光部所接受到的光来检测所述试剂容器的内部的液面高度,并根据该液面高度判断所述试剂容器的液量是否在规定值以下,
基于所述试剂容器的材料以及所述试剂的种类来决定所述光的波长。
2.如权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,
所述光的波长是会被所述试剂容器的内部的液体遮挡并且透过所述试剂容器的波长。
3.如权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,
还包括管嘴,该管嘴从所述试剂容器吸引所述试剂或将所述试剂喷出至所述试剂容器,
所述射出部及所述受光部配置成使所述光的轨迹避开所述管嘴。
4.如权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,
所述射出部和所述受光部设置在不会由于所述试剂的不足妨碍装置动作的液量即规定值的高度。
5.如权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,
包括显示部,该显示部在所述试剂容器的液量为规定值以下时,显示促使更换所述试剂容器的消息。
6.如权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,包括:
判断部,该判断部对试剂容器的试剂的液量为一定量以下的情况进行判断;以及
校正部,该校正部在所述判断部判断为所述试剂容器的液量为规定值以下时,将所吸引的试剂的液量的计数值校正成规定值。
7.如权利要求6所述的自动分析装置,其特征在于,
包括初始化部,该初始化部对所述液量进行初始化,
所述初始化部在所述判断部判断为所述试剂容器的液量为规定值以下时,所述初始化部的初始化动作不会进行。
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