[发明专利]一种电路结构、系统级芯片SoC、处理数据的方法

权利要求书

1.一种电路结构，其特征在于，包括：

一个或多个存储器；

多个通道控制器，从所述一个或多个存储器获取多个待校验数据，每个通道控制器对应一种校验算法；

所述多个通道控制器通过各自对应的校验算法，对所述多个待校验数据进行处理，并将处理后的数据写入所述一个或多个存储器。

2.根据权利要求1所述的电路结构，其特征在于，

每个通道控制器对应的校验算法的类型可动态配置。

3.根据权利要求1或2所述的电路结构，其特征在于，

每个通道控制器对应的校验算法不同。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的电路结构，其特征在于，

所述多个通道控制器并行处理各自对应的待校验数据。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的电路结构，其特征在于，

所述电路结构包括多个输入模块和多个输出模块，所述多个输入模块与所述多个通道控制器一一对应，

所述多个通道控制器通过各自对应的校验算法，对多个待校验数据进行处理，包括：

第一通道控制器读取第一输入模块中的第一输入配置信息，所述第一输入配置信息包括：第一数据的起始地址、第一结果输出地址、初始值、输出异或值；

所述第一通道控制器通过对应的校验算法，计算所述第一数据，得到所述第一结果；

所述第一通道控制器将以下一项或多项信息输出到所述第一结果输出地址：所述第一结果、初始值、计算的数据长度、所述第一输入配置信息；

其中，所述第一通道控制器为所述多个通道控制器中的任意一个通道控制器，所述第一通道控制器与所述第一输入模块对应。

6.根据权利要求1至5中任一项所述的电路结构，其特征在于，校验算法的类型至少包括：

循环冗余校验CRC多项式0x07、CRC多项式0x31、CRC多项式0x5e、CRC多项式0x1021、CRC多项式0x8005、CRC多项式0x864CF8、CRC多项式0x04C11DB7、传输控制协议校验和TCPChecksum、用户数据报协议校验和UDP Checksum。

7.根据权利要求1至6中任一项所述的电路结构，其特征在于，

每个通道控制器最多能够同时处理16个数据块。

8.一种处理数据的方法，其特征在于，包括：

在多个通道上接收多个待校验数据，每个通道对应一种校验算法；

在所述多个通道上，通过各自对应的校验算法，对所述多个待校验数据进行处理。

9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，

每个通道对应的校验算法的类型可动态配置。

10.根据权利要求8或9所述的方法，其特征在于，

每个通道对应的校验算法不同。

11.根据权利要求8至10中任一项所述的方法，其特征在于，

所述在所述多个通道上，通过各自对应的校验算法，对所述多个待校验数据进行处理，包括：

在所述多个通道上，通过各自对应的校验算法，并行处理所述多个待校验数据。

12.根据权利要求8至11中任一项所述的方法，其特征在于，

在第一通道上读取第一输入配置信息，所述第一输入配置信息包括：第一数据的起始地址、第一结果输出地址、初始值、输出异或值；

通过所述第一通道对应的校验算法，计算所述第一数据，得到所述第一结果；

将以下一项或多项信息输出到所述第一结果输出地址：所述第一结果、初始值、计算的数据长度、所述第一输入配置信息；

其中，所述第一通道为所述多个通道中的任意一个通道。