[发明专利]多相电流测量装置和用于多相电流测量的方法

权利要求书

1.一种多相电流测量装置(10、20、30、40、50、60)，用于测量具有沿N个电流导体(12)承载的N个电流相的多导体电流系统的电流，包括：用于确定测量平面中相邻的电流导体(12)的导体电流之间的磁场强度差的N-1个磁阻梯度传感器(14)，其中，N2，其特征在于，相对于每个磁阻梯度传感器(14)布置有另外的非直接相邻的电流导体(12)中的至少一个电流导体(12)的绕过部分(32)的至少一个旁路导体(16)，其中所述至少一个旁路导体(16)设计用于补偿两个相邻的电流导体(12)的导体电流的DC场分量。

2.根据权利要求1所述的多相电流测量装置(10、20、30、40、50、60)，其特征在于，所述至少一个旁路导体(16)或旁路导体(16)的组(28)关于所述磁阻梯度传感器(14)的所述测量平面对称地布置，使得由所述至少一个旁路导体(16)或旁路导体(16)的组(28)产生的旁路磁场不引起所述磁阻梯度传感器(14)的梯度测量信号。

3.根据权利要求1或2所述的多相电流测量装置(10、20、30、40、50、60)，其特征在于，能够通过电流导体(12)的旁路导体(16)的电流分量能够被调节。

4.根据权利要求3所述的多相电流测量装置(10、20、30、40、50、60)，其特征在于，能够通过旁路导体(16)的所述电流分量通过所述电流导体(12)的被旁路导体(16)绕过的部分(32)的电流导体截面减小区域(24)、以及绝缘区域和/或电阻区域(26)而能够被调节。

5.根据权利要求1所述的多相电流测量装置(10、20、30、40、50、60)，其特征在于，所有所述磁阻梯度传感器(14)沿着与所述电流导体(12)的纵向长度正交的轴线布置。

6.根据权利要求1所述的多相电流测量装置(10、20、30、40、50、60)，其特征在于，所述磁阻梯度传感器(14)相对于所述电流导体(12)的纵向长度偏移布置。

7.根据权利要求1所述的多相电流测量装置(10、20、30、40、50、60)，其特征在于，所述磁阻梯度传感器(14)布置在绝缘体层(22)上方并且所述电流导体(12)和所述旁路导体(16)在所述绝缘体层(22)下方。

8.根据权利要求7所述的多相电流测量装置(10、20、30、40、50、60)，其特征在于，其中，所述旁路导体(16)的至少一个馈送导体(18)在所述绝缘体层(22)的上方被引导。

9.根据权利要求1所述的多相电流测量装置(10、20、30、40、50、60)，其特征在于，所述旁路导体(16)包括至少一个馈送导体(18)，所述馈送导体(18)在所述电流导体(12)和所述磁阻梯度传感器(14)的所述测量平面下方和/或上方的不同导电平面中延伸，并且在于，所述旁路导体(16)在所述电流导体(12)的平面中并且平行于所述电流导体(12)延伸。

10.根据权利要求1所述的多相电流测量装置(10、20、30、40、50、60)，其特征在于，多个旁路导体(16)相对于所述测量平面水平或竖直地彼此相邻地布置，或者彼此同心地布置在所述磁阻梯度传感器(14)的所述测量平面中。

11.根据权利要求1所述的多相电流测量装置(10、20、30、40、50、60)，其特征在于，所述磁阻梯度传感器(14)包括场补偿设备。

12.根据权利要求11所述的多相电流测量装置(10、20、30、40、50、60)，其特征在于，所述场补偿设备是能够调节的。