[发明专利]用于测量多个待评估材料的中凹表面和参考材料的中凹表面之间的几何偏差的方法有效
申请号: | 201980005609.9 | 申请日: | 2019-12-06 |
公开(公告)号: | CN111556953B | 公开(公告)日: | 2023-02-28 |
发明(设计)人: | A.卡吕;A.马利耶 | 申请(专利权)人: | 法国圣戈班玻璃厂 |
主分类号: | G01B11/24 | 分类号: | G01B11/24;G01B11/30;G01B21/04;G01N21/958;B25J9/16 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 邓雪萌;王丽辉 |
地址: | 法国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 测量 多个待 评估 材料 表面 参考 之间 几何 偏差 方法 | ||
1.一种用于测量多个待评估材料的中凹表面和参考材料的中凹表面之间的弯曲的几何偏差的自动化方法,其中,所述参考材料和评估材料分别是参考玻璃片和评估玻璃片,所述方法包括以下步骤:
(a)使用非接触式检测装置在沿着限定轨迹的选定测量点处测量所述参考材料的中凹表面的弯曲轮廓,所述非接触式检测装置设置在自动位移装置上,该自动位移装置与所述非接触式检测装置对凸起高度的测量同步地沿着所述轨迹行进;
(b)与所述步骤(a)期间,在沿着相同轨迹的相同选定测量点处,在所述自动位移装置沿着所述轨迹行进的相同条件下,并根据在与所述参考材料的中凹表面相同的测量点处的所述非接触式检测装置的相同采集角度,测量每个待评估材料的中凹表面的弯曲轮廓;
(c)由计算机在选定点计算在所述步骤(b)中获得的每个待评估材料的中凹表面的弯曲轮廓与在所述步骤(a)中获得的参考材料的中凹表面的凸起高度轮廓或弯曲轮廓之间的差。
2.根据权利要求1所述的用于测量多个待评估材料的中凹表面和参考材料的中凹表面之间的弯曲的几何偏差的自动化方法,使得其在所述步骤(c)之后还包括步骤(d),步骤(d)用于在选定测量点处,将所述步骤(c)期间计算的差值与预先在每个所述点处限定的公差值进行比较。
3.根据权利要求1或2所述的用于测量多个待评估材料的中凹表面和参考材料的中凹表面之间的弯曲的几何偏差的自动化方法,使得在所述步骤(a)之前,还包括步骤(a’),步骤(a’)用于校准所述自动位移装置和所述非接触式检测装置形成的组件在可能在所述步骤(a)中经行进的轨迹的空间中的空间定位的再现性,所述步骤(a’)包括以下子步骤:
(a’1)限定在包括可能在所述步骤(a)中经行进的轨迹的空间中的第一参考坐标系中的已知空间坐标的多个校准点;
(a’2)由所述自动位移装置和所述非接触式检测装置形成的组件采集在所述自动位移装置和所述非接触式检测装置形成的所述组件的所述参考坐标系中的所述校准点的空间坐标;
(a'3)由计算机实现在所述步骤(a'1)中获得的所述空间坐标和在所述步骤(a'2)中获得的所述空间坐标之间的统计学相关函数的计算;
(a’4)在用于控制所述自动位移装置和所述非接触式检测装置形成的所述组件的运动的装置中实施所述统计学相关函数。
4.根据权利要求3所述的用于测量多个待评估材料的中凹表面和参考材料的中凹表面之间的弯曲的几何偏差的自动化方法,使得使用最小二乘回归方法来执行统计学相关函数的计算。
5.根据权利要求1或2所述的用于测量多个待评估材料的中凹表面和参考材料的中凹表面之间的弯曲的几何偏差的自动化方法,使得在材料的中凹表面上依次地并且连续地执行所述步骤(b)和(c)。
6.根据权利要求1或2所述的用于测量多个待评估材料的中凹表面和参考材料的中凹表面之间的弯曲的几何偏差的自动化方法,使得使用参考中凹表面的数字模型来限定所述轨迹。
7.根据权利要求1或2所述的用于测量多个待评估材料的中凹表面和参考材料的中凹表面之间的弯曲的几何偏差的自动化方法,使得评估材料和所述参考材料的中凹表面根据对应于在它们使用期间设置的倾斜角的倾斜角而空间定向。
8.根据权利要求1或2所述的用于测量多个待评估材料的中凹表面和参考材料的中凹表面之间的弯曲的几何偏差的自动化方法,使得所述非接触式检测装置是彩色共焦传感器。
9.根据权利要求1或2所述的用于测量多个待评估材料的中凹表面和参考材料的中凹表面之间的弯曲的几何偏差的自动化方法,使得所述自动位移装置是具有六个自由度的自动铰接臂。
10.根据权利要求1所述的用于测量多个待评估材料的中凹表面和参考材料的中凹表面之间的弯曲的几何偏差的自动化方法,使得所述参考玻璃片和所述评估玻璃片可能分别形成用于运输工具的参考玻璃窗的玻璃片和用于相同运输工具的评估玻璃窗的玻璃片。
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