[发明专利]一种用于测量电流的装置、方法及设备有效

专利信息
申请号: 201980006469.7 申请日: 2019-01-31
公开(公告)号: CN111771129B 公开(公告)日: 2022-04-22
发明(设计)人: 胡章荣 申请(专利权)人: 华为技术有限公司
主分类号: G01R19/00 分类号: G01R19/00
代理公司: 广州三环专利商标代理有限公司 44202 代理人: 熊永强;李稷芳
地址: 518129 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 测量 电流 装置 方法 设备
【权利要求书】:

1.一种用于测量电流的装置,其特征在于,包括:多个串联电阻、切换单元、和库仑计;

所述多个串联电阻位于电池的放电通路上,所述多个串联电阻中的至少一个第一电阻的值不同于第二电阻的值;所述至少一个第一电阻中的任一个电阻包括寄生电阻;所述寄生电阻包括:走线提供的电阻、导线提供的电阻、或者连接器提供的电阻;

所述切换单元,用于切换所述库仑计与所述多个串联电阻的耦合关系,以形成多种耦合方式;在任一耦合方式下,所述多个串联电阻中的至少一个测量目标电阻被耦合至所述库仑计;

所述库仑计,用于在任一耦合方式下利用所述至少一个测量目标电阻测量所述放电通路上的电流值;所述多种耦合方式包括第一耦合方式和第二耦合方式;在所述第一耦合方式下,所述至少一个测量目标电阻具有第一电阻的值,所述第一耦合方式对应的电流值是第一电流值;在所述第二耦合方式下,所述至少一个测量目标电阻具有第二电阻的值,所述第一电阻的值小于所述第二电阻的值,所述第二耦合方式对应的电流值是第二电流值;在所述第一电流值小于或等于第一阈值时,测量结果基于校准参数对第二电流值做校准得到。

2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述至少一个第一电阻包括第三电阻和第四电阻,所述第三电阻的值与所述第四电阻的值不同。

3.根据权利要求2所述的装置,其特征在于,所述第三电阻的值大于所述第二电阻的值,所述第四电阻的值小于所述第二电阻的值。

4.根据权利要求1-3中任一项所述的装置,其特征在于,所述至少一个测量目标电阻包括所述至少一个第一电阻中任一个与所述第二电阻的组合。

5.一种用于测量电流的设备,其特征在于,包括如权利要求1-4中任一项所述装置以及处理器;

所述处理器,用于控制所述切换单元切换所述库仑计与所述多个串联电阻的所述耦合关系;

所述处理器还用于从所述装置获取与所述多种耦合方式中每种耦合方式对应的电流值;

所述处理器还用于对至少一种耦合方式对应的电流值做校准;

所述多种耦合方式包括第一耦合方式和第二耦合方式;在所述第一耦合方式下,所述至少一个测量目标电阻具有第一电阻的值,所述第一耦合方式对应的电流值是第一电流值;在所述第二耦合方式下,所述至少一个测量目标电阻具有第二电阻的值,所述第一电阻的值小于所述第二电阻的值,所述第二耦合方式对应的电流值是第二电流值;

所述处理器还用于当确定所述第一电流值小于或等于第一阈值,则利用校准参数对第二电流值做校准以得到测量结果。

6.根据权利要求5所述的设备,其特征在于,所述处理器还用于当确定所述第一电流值大于所述第一阈值,将所述第一电流值作为测量结果。

7.根据权利要求5或6所述的设备,其特征在于,所述处理器还用于当确定所述第一电流值大于所述第一阈值且所述第二电流值小于第二阈值,则修正所述校准参数,所述第二阈值大于所述第一阈值。

8.根据权利要求5所述的设备,其特征在于,所述多种耦合方式包括第三耦合方式和第四耦合方式;在所述第三耦合方式下,所述至少一个测量目标电阻具有第三电阻值,所述第三耦合方式对应的电流值是第三电流值;在所述第四耦合方式下,所述至少一个测量目标电阻具有第四电阻值,所述第三电阻值大于所述第四电阻值,所述第四耦合方式对应的电流值是第四电流值;

所述处理器还用于当确定所述第三电流值大于或等于第二阈值,则利用校准参数对第四电流值做校准以得到测量结果。

9.根据权利要求8所述的设备,其特征在于,所述处理器还用于当确定所述第三电流值小于所述第二阈值,将所述第三电流值作为测量结果。

10.根据权利要求8或9所述的设备,其特征在于,所述处理器还用于当确定所述第三电流值小于所述第二阈值且所述第四电流值大于第一阈值,则修正所述校准参数,所述第二阈值大于所述第一阈值。

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