[发明专利]用于校正分流电阻器的电流值的系统和方法

权利要求书

1.一种用于校正分流电阻器的电流值的系统，所述系统包括：

电流计算单元，该电流计算单元被配置成基于检测到的设置在电路中的分流电阻器的电压值和所述分流电阻器的第一电阻值来计算所述分流电阻器的电流值，

功率计算单元，该功率计算单元被配置成基于设置在所述电路中的所述分流电阻器的所述电流值和所述分流电阻器的所述第一电阻值来计算所述分流电阻器的功耗和发热值；

温度测量单元，该温度测量单元被配置成测量所述分流电阻器的环境温度值；

最终温度值计算单元，该最终温度值计算单元被配置成根据基于所计算的发热值和所述分流电阻器的热阻系数计算的所述分流电阻器的发热温度值以及所述分流电阻器的环境温度值来计算所述分流电阻器的第二最终温度值和与电流流动之前的第一最终温度值相比的所述第二最终温度值的变化量，并且计算所述分流电阻器的最终温度值变化量；以及

电阻计算单元，该电阻计算单元被配置成基于所计算的所述分流电阻器的最终温度值变化量以及所述分流电阻器根据温度变化而变化的温度系数值来计算所述分流电阻器的第二电阻值，

其中，所述电阻计算单元将通过下面的式4计算的值确定为所述分流电阻器的所述第二电阻值，

[式4]

R＝R_i+(T*b)，

这里，R是所述分流电阻器的所述第二电阻值，R_i是所述分流电阻器的所述第一电阻值，T是所述分流电阻器的所述最终温度值变化量，并且b是所述分流电阻器的温度系数。

2.根据权利要求1所述的系统，该系统还包括：

电压测量单元，该电压测量单元被配置成当设置在所述电路上的所述分流电阻器的电压下降时检测所述分流电阻器的电压值，其中，所述电流计算单元将所述第一电阻值改变为从所述电阻计算单元提供的所述第二电阻值。

3.根据权利要求2所述的系统，其中，所述电流计算单元将通过下面的式1计算的值确定为所述电流值，

[式1]

I＝V/R，

这里，I是所述分流电阻器的电流值，V是所述分流电阻器的电压值，R是所述分流电阻器的所述第一电阻值。

4.根据权利要求1所述的系统，其中，所述功率计算单元将通过下面的式2计算的值确定为所述分流电阻器的发热值，

[式2]

这里，E是所述分流电阻器的发热值，I是所述分流电阻器的电流值，R是所述分流电阻器的所述第一电阻值，t是电流在所述分流电阻器中流动的流动时间值。

5.根据权利要求1所述的系统，其中，所述温度测量单元与所述分流电阻器相邻地设置。

6.根据权利要求1所述的系统，其中，所述最终温度值计算单元将通过下面的式3计算的值确定为所述分流电阻器的所述第二最终温度值和所述最终温度值变化量，并且计算所述分流电阻器的所述第二最终温度值和所述最终温度值变化量，然后将所述第一最终温度值改变为所述第二最终温度值，

[式3]

T＝(E*a)+T_a-T_i

这里，T是所述分流电阻器的所述最终温度值变化量，E是所述分流电阻器的发热值，a是所述分流电阻器的热阻系数，T_a是所述分流电阻器的环境温度，T_i是所述分流电阻器的第一最终温度值。