[发明专利]半导体材料及半导体装置在审
申请号: | 201980008397.X | 申请日: | 2019-01-17 |
公开(公告)号: | CN111742408A | 公开(公告)日: | 2020-10-02 |
发明(设计)人: | 国武宽司;长塚修平 | 申请(专利权)人: | 株式会社半导体能源研究所 |
主分类号: | H01L27/06 | 分类号: | H01L27/06;G02F1/1368;H01L21/336;H01L21/822;H01L21/8234;H01L21/8242;H01L27/04;H01L27/088;H01L27/108;H01L27/1156;H01L29/786;H01L27/32;H01L29/788 |
代理公司: | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人: | 贾成功 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体材料 半导体 装置 | ||
1.一种半导体装置,包括:
包括衬底上的第一导电体、第二导电体、第三导电体及氧化物半导体的晶体管;
第一之二极管元件;
第二之二极管元件;以及
第三之二极管元件,
其中,在所述晶体管中带电的电荷通过所述第一之二极管元件、所述第二之二极管元件或所述第三之二极管元件迁移到所述半导体衬底。
2.根据权利要求1所述的半导体装置,
其中所述第一之二极管元件、所述第二之二极管元件、所述第三之二极管元件及所述第四之二极管元件与第四导电体电连接。
3.一种半导体装置,包括:
包括衬底上的第一导电体、第二导电体、第三导电体及氧化物半导体的晶体管;
第一电容器;
第二电容器;以及
第三电容器,
其中,在所述晶体管中带电的电荷迁移到所述第一电容器、所述第二电容器或所述第三电容器并被固定。
4.根据权利要求3所述的半导体装置,
其中所述第一电容器、所述第二电容器及所述第三电容器与第四导电体电连接。
5.根据权利要求2或4所述的半导体装置,
其中所述第四导电体被用作所述晶体管的栅电极。
6.根据权利要求1至5中任一项所述的半导体装置,
其中所述半导体装置包括两个以上的所述晶体管。
7.一种半导体装置,包括:
衬底上的第一晶体管、第二晶体管、第三晶体管及第四晶体管,
其中,所述第四晶体管包括第一导电体、第二导电体、第三导电体及氧化物半导体,
所述第一导电体通过所述第一晶体管与所述半导体衬底电连接,
所述第二导电体通过所述第一晶体管与所述半导体衬底电连接,
所述第三导电体通过所述第一晶体管与所述半导体衬底电连接,
并且,所述第四导电体通过所述第一晶体管与所述半导体衬底电连接。
8.根据权利要求7所述的半导体装置,
其中所述第一晶体管、所述第二晶体管及所述第三晶体管被用作电容器。
9.根据权利要求7所述的半导体装置,
其中所述第一晶体管、所述第二晶体管及所述第三晶体管被用作二极管元件。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的