[发明专利]X射线管的控制方法和X射线管的控制装置在审
申请号: | 201980011305.3 | 申请日: | 2019-01-29 |
公开(公告)号: | CN111670611A | 公开(公告)日: | 2020-09-15 |
发明(设计)人: | 土屋忠严;西本范人 | 申请(专利权)人: | 纳欧克斯影像有限责任公司;纳欧克斯影像股份有限公司 |
主分类号: | H05G1/34 | 分类号: | H05G1/34 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 崔成哲;黄纶伟 |
地址: | 英国直*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 射线 控制 方法 装置 | ||
1.一种X射线管的控制方法,该X射线管包含:
电子发射部,其具有阴极部和栅电极;
阳极部,其具有与所述阴极部对置的阳极面;以及
靶,其配置于所述阳极面,
所述X射线管与控制装置以及高电位发生器一起使用,该控制装置向所述阴极部提供接地电位并且向所述栅电极提供栅极电压,该高电位发生器将比所述接地电位高的电源电压提供给所述阳极部,
其中,
所述X射线管的控制方法具有如下的步骤:
所述控制装置对流过所述阴极部与所述控制装置之间的阴极电流进行检测,并且对流过所述栅电极与所述控制装置之间的栅极电流进行检测;
所述控制装置根据检测到的所述阴极电流和所述栅极电流,取得从所述高电位发生器向所述阳极部流动的阳极电流;以及
所述控制装置根据所取得的所述阳极电流向所述栅电极提供所述栅极电压。
2.根据权利要求1所述的X射线管的控制方法,其中,
所述控制装置预先存储有栅极电压校正映射图,该栅极电压校正映射图与所述阳极电流的误差和所述栅极电压的组合对应地记录有所述栅极电压的校正量,
所述控制装置根据所取得的所述阳极电流与该阳极电流的目标值之间的差和所述栅极电压的当前值,从所述栅极电压校正映射图中取得所述栅极电压的校正量,并根据所取得的所述栅极电压的校正量生成所述栅极电压。
3.根据权利要求2所述的X射线管的控制方法,其中,
所述X射线管还与计测所述X射线管的温度的温度计测器一起使用,
所述栅极电压校正映射图构成为与所述栅极电压、所述阳极电流的误差以及所述X射线管的温度的组合对应地记录有所述栅极电压的校正量,
所述控制装置根据所取得的所述阳极电流与该阳极电流的目标值之间的差、所述栅极电压的当前值、以及由所述温度计测器计测出的所述X射线管的温度,从所述栅极电压校正映射图中取得所述栅极电压的校正量。
4.根据权利要求1所述的X射线管的控制方法,其中,
所述X射线管还包含配置于所述电子发射部与所述靶之间的聚焦构造,
所述控制装置预先存储有焦点校正映射图,该焦点校正映射图与所述电源电压和所述阳极电流的组合对应地记录有聚焦电压的值,
所述控制装置根据所取得的所述阳极电流和所述电源电压的当前值,从所述焦点校正映射图中取得所述聚焦电压的值,并根据所取得的所述聚焦电压的值,向所述聚焦构造提供聚焦电压。
5.根据权利要求1所述的X射线管的控制方法,其中,
所述控制装置构成为依次向多个所述X射线管的各自的所述栅电极提供栅极电压,
所述控制装置针对多个所述X射线管的每一个预先存储有栅极电压校正映射图,该栅极电压校正映射图与所述阳极电流的误差和所述栅极电压的组合对应地记录有所述栅极电压的校正量,
所述控制装置针对多个所述X射线管的每一个进行如下的处理:根据所取得的所述阳极电流与该阳极电流的目标值之间的差以及所述栅极电压的当前值,从对应的所述栅极电压校正映射图中取得所述栅极电压的校正量,并根据所取得的所述栅极电压的校正量而生成所述栅极电压。
6.根据权利要求5所述的X射线管的控制方法,其中,
多个所述X射线管还分别包含配置于所述电子发射部与所述靶之间的聚焦构造,
所述控制装置针对多个所述X射线管的每一个预先存储有焦点校正映射图,该焦点校正映射图与所述电源电压和所述阳极电流的组合对应地存储有聚焦电压的值,
所述控制装置针对多个所述X射线管的每一个进行如下的处理:根据所取得的所述阳极电流和所述电源电压的当前值,从对应的所述焦点校正映射图中取得所述聚焦电压的值,并根据所取得的所述聚焦电压的值向所述聚焦构造提供聚焦电压。
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