[发明专利]用于校正条带的错位的设备和方法

权利要求书

1.一种用于校正条带的错位的设备，其中，所述设备包括校正装置，该校正装置具有用于将条带支撑在支撑平面中的对齐表面，其中，所述支撑平面相对于第一竖直平面以在五到三十度范围内的支撑角延伸，其中，所述支撑平面在交线处与垂直于所述第一竖直平面的第二竖直平面相交，其中，所述校正装置还包括位于所述对齐表面的被布置为支撑所述条带的同一侧处的一个或多个校正元件，其中，所述一个或多个校正元件被布置为在平行于所述支撑平面且横向于所述交线的校正方向上将位移力施加到所述条带上。

2.根据权利要求1所述的设备，其中，所述一个或多个校正元件被布置为主要沿所述校正方向作用于所述条带上。

3.根据权利要求2所述的设备，其中，所述一个或多个校正元件被布置为仅沿所述校正方向作用于所述条带上。

4.根据权利要求1所述的设备，其中，所述一个或多个校正元件包括用于在所述校正方向上吸引所述条带的一个或多个吸引元件。

5.根据权利要求1所述的设备，其中，所述校正装置包括具有抵靠表面的对齐构件，该抵靠表面平行于所述交线延伸并且面向与所述校正方向相反的抵靠方向。

6.根据权利要求5所述的设备，其中，所述对齐构件能沿所述抵靠方向移动。

7.根据权利要求5所述的设备，其中，所述一个或多个校正元件设置在所述对齐构件中或在所述对齐构件上。

8.根据权利要求7所述的设备，其中，所述一个或多个校正元件设置在所述抵靠表面处并且面向所述抵靠方向。

9.根据权利要求5所述的设备，其中，所述交线是用于对齐所述条带的所述对齐表面上的基准线，其中，所述对齐构件能在所述抵靠方向上至少一直移动到所述基准线。

10.根据权利要求9所述的设备，其中，所述对齐构件能沿所述抵靠方向从距所述基准线第一距离的第一位置移动到距所述基准线第二距离的第二位置，所述第二距离小于所述第一距离。

11.根据权利要求10所述的设备，其中，当所述对齐构件在所述第一位置与所述第二位置之间时，由所述一个或多个校正元件施加到所述条带上的所述位移力不足以使所述条带在所述校正方向上位移。

12.根据权利要求10所述的设备，其中，所述第一距离大于八毫米。

13.根据权利要求10所述的设备，其中，所述第二距离在五至八毫米的范围内。

14.根据权利要求10所述的设备，其中，所述对齐构件能沿所述抵靠方向从所述第二位置移动到所述基准线处的第三位置中。

15.根据权利要求14所述的设备，其中，当所述对齐构件在所述第二位置与所述第三位置之间时，由所述一个或多个校正元件施加到所述条带上的所述位移力足以使所述条带的至少一部分沿所述校正方向位移成与所述抵靠表面抵靠。

16.根据权利要求1所述的设备，其中，所述条带包含铁磁加强元件，其中，所述一个或多个校正元件包括用于沿校正方向磁性吸引条带的一个或多个校正磁体。

17.根据权利要求16所述的设备，其中，所述一个或多个校正磁体是永磁体。