[发明专利]晶体管及形成晶体管的方法在审
申请号: | 201980012083.7 | 申请日: | 2019-01-03 |
公开(公告)号: | CN111699559A | 公开(公告)日: | 2020-09-22 |
发明(设计)人: | D·V·N·拉马斯瓦米 | 申请(专利权)人: | 美光科技公司 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L29/417;H01L21/02;H01L21/324 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 王龙 |
地址: | 美国爱*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 晶体管 形成 方法 | ||
本发明揭示一种晶体管,其包括一对源极/漏极区域,所述对源极/漏极区域之间具有沟道。晶体管栅极构造是操作地接近所述沟道。所述沟道包括Si1‑yGey,其中“y”是从0到0.6。所述源极/漏极区域中的每一者的至少一部分包括Si1‑xGex,其中“x”是从0.5到1。本发明还揭示包含方法的其它实施例。
技术领域
本文中所揭示的实施例涉及晶体管及形成晶体管的方法。
背景技术
存储器是一种类型的集成电路,且用于在计算机系统中存储数据。可将存储器制造成个别存储器单元的一或多个阵列。可使用数字线(其还可称为位线、数据线或感测线)及存取线(其还可称为字线)来对存储器单元写入或从存储器单元读取。感测线可沿阵列的列导电地互连存储器单元,且存取线可沿阵列的行导电地互连存储器单元。可通过感测线及存取线的组合来唯一地寻址每一存储器单元。
存储器单元可为易失性、半易失性或非易失性的。非易失性存储器单元可在缺少电力的情况下长时间存储数据。非易失性存储器通常特指具有至少约10年的保存时间的存储器。易失性存储器消耗且因此被刷新/重写以维持数据存储。易失性存储器可具有数毫秒或更短的保存时间。无论如何,存储器单元经配置以将存储保存或存储成至少两个不同可选状态。在二元系统中,将状态视为“0”或“1”。在其它系统中,至少一些个别存储器单元可经配置以存储信息的两个以上层或状态。
场效应晶体管是可用于存储器单元中的一种类型的电子组件。这些晶体管包括一对导电源极/漏极区域,其之间具有半导电沟道区域。导电栅极相邻于沟道区域且通过薄栅极绝缘体来与沟道区域分离。将合适电压施加到栅极允许电流从源极/漏极区域中的一者流动通过沟道区域而到另一者。当从栅极移除电压时,基本上防止电流流动通过沟道区域。场效应晶体管还可包含额外结构(例如可逆可编程电荷存储区域)作为栅极绝缘体与导电栅极之间的栅极构造的部分。
晶体管可用于除存储器电路之外的电路中。
附图说明
图1是根据本发明的实施例的晶体管的图解横截面图且是穿过图2到4中的线1-1取得的。
图2是穿过图1中的线2-2取得的横截面图。
图3是穿过图1中的线3-3取得的横截面图。
图4是穿过图1中的线4-4取得的横截面图。
图5是根据本发明的实施例的晶体管的图解横截面图。
图6是根据本发明的实施例的晶体管的图解横截面图。
图7是根据本发明的实施例的晶体管的图解横截面图。
图8是根据本发明的实施例的晶体管的图解横截面图。
图9是根据本发明的实施例的晶体管的图解横截面图。
图10是根据本发明的实施例的晶体管的图解横截面图。
图11是根据本发明的实施例的晶体管的图解横截面图且是穿过图12中的线11-11取得的。
图12是穿过图11中的线12-12取得的横截面图。
具体实施方式
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