[发明专利]片材厚度测量装置有效
申请号: | 201980019762.7 | 申请日: | 2019-03-15 |
公开(公告)号: | CN111886475B | 公开(公告)日: | 2022-06-03 |
发明(设计)人: | 市川茂 | 申请(专利权)人: | 明产株式会社 |
主分类号: | G01B21/08 | 分类号: | G01B21/08;G01B7/06;G01B11/06 |
代理公司: | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人: | 周爽;金玉兰 |
地址: | 日本静冈*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 厚度 测量 装置 | ||
本发明提供一种能够遍及作为测量对象的整个片材而提高测量密度及测量精度的片材厚度测量装置。基于支承辊的存在片材的位置处的片材厚度信号与支承辊的不存在片材的位置的片材厚度信号之间的差,将多个片材厚度传感器的各片材厚度信号与所述支承辊的表面位置相对应地进行调零校正。构成为基于在支承辊上不存在片材时的来自所述磁性传感器的输出信号,与所述支承辊的表面位置相对应地对在支承辊上存在片材时的来自所述多个片材厚度传感器的各所述片材厚度信号进行校正。由此,能够进行高密度且精度良好的片材的厚度测量。
技术领域
本发明涉及片材的厚度测量,特别是,涉及一种能够遍及作为测量对象的整个片材而提高测量密度和测量精度的片材厚度测量装置。
背景技术
对在片材生产线上制造的高精度且高密度的片材要求厚度管理的情况越来越多。并且,在测量片材的厚度时,为了防止片材损伤等对片材的难以预料的不良影响,谋求不使厚度测量装置与片材直接接触,并且以在线即快速应对的方式进行片材厚度测量。
以往,已知同时使用磁场利用传感器和光学传感器而用于测量纸、塑料等片材厚度的片材厚度测量装置(专利文献1)。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本特开平3-123811号
发明内容
技术问题
但是,以往在测量作为对象的片材的厚度时,使用1个片材厚度传感器进行测量。在该情况下,一边使1个片材厚度传感器在支承作为厚度测量对象的片材的金属制支承面上沿规定方向扫描移动,一边进行片材的厚度测量。但是,在仅使用1个片材厚度传感器对在旋转的支承辊上移动的片材的表面进行测量时,因为仅1条传感器扫描线的轨迹来表示片材厚度的测量结果,所以要提高作为对象的片材的厚度测量密度是有限度的。
另外,从另一观点来看,以往,成为厚度测量对象的通常是如引用文献1所述的纸、塑料片材,但是,最近成为厚度测量对象的片材材料产生了多样化这样的新情况。
即,最近,除了纸、塑料片材以外,还逐渐要求测量例如用作锂电池等的电极材料或隔离材料的片状部件的厚度。
最近的锂离子电池是使用片状的电极部件的多层结构而制造的。并且,对这样的片材材料要求片材品质在整体上均匀性更高。在如此要求片材品质在整体上均匀性高的最近的现状下,为了提高品质,提高片材厚度的精度的同时提高测量密度也是重要的因素。
作为其理由之一,最近还发生了被认为是由锂电池等的结构性缺陷而引起的事故,从所使用的片材材料的安全性方面考虑的社会要求高涨。随着这样的要求厚度测量的片材材料的多样化,在片材的制造工序中,为了准确测量片材厚度,并适当地进行片材生产线的反馈,要求提高片材厚度传感器的移动速度,或者将片材的厚度测量点增多等,从而以更高密度来测量片材的厚度。
因此,本发明的目的在于,提供一种片材厚度测量装置,其能够在用于各种用途的片材的厚度测量中,遍及成为测量对象的整个片材在不降低测量精度的情况下,提高测量密度。
技术方案
为了达到上述目的,本发明的特征在于,是具备多个片材厚度传感器的片材厚度测量装置。
即,一种片材厚度测量装置,其具备片材厚度传感器,并且构成为多个所述片材厚度传感器分别独立地进行扫描,所述片材厚度传感器使用磁性传感器和光学传感器,并且基于来自该磁性传感器和光学传感器的输出信号来测量片材的厚度。
并且,本发明的片材厚度测量装置具备:支承辊,其支承所述片材;以及扫描单元,其使所述片材厚度传感器与所述支承辊的表面位置相对应地进行扫描。
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