[发明专利]电感器用芯部、电子笔用芯体部、电子笔以及输入装置有效
申请号: | 201980020489.X | 申请日: | 2019-04-01 |
公开(公告)号: | CN111868854B | 公开(公告)日: | 2022-03-22 |
发明(设计)人: | 落合仁美 | 申请(专利权)人: | 京瓷株式会社 |
主分类号: | H01F3/08 | 分类号: | H01F3/08;G06F3/03;G06F3/046 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 王晖 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电感 器用 电子 笔用芯体部 以及 输入 装置 | ||
1.一种电感器用芯部,包含筒状的磁性体主体,该磁性体主体包含磁性体,
所述磁性体主体具有:
倾斜部,具有形成外径从所述磁性体主体的一端向另一端变大的圆锥台的周面的倾斜面;和
直筒部,与所述倾斜部处于同轴上,从所述另一端向所述一端延伸,具有形成圆筒体的周面的外周面,并与所述倾斜部连接,
所述直筒部的在所述另一端附近的外周面的算术平均粗糙度Ra比所述直筒部的在所述倾斜部附近的外周面的算术平均粗糙度Ra小,
所述磁性体主体包含以铁氧体为主成分的陶瓷,所述铁氧体包含Fe、Zn、Ni以及Cu的氧化物,通过下述式(1)来表示的所述陶瓷的平均晶粒直径的变动系数CV为0.08以上且0.3以下,
CV=σ/x......(1)
其中,
x是所述陶瓷的平均晶粒直径的平均值,
σ是所述陶瓷的平均晶粒直径的标准偏差。
2.根据权利要求1所述的电感器用芯部,其中,
所述直筒部的在所述倾斜部附近的外周面的算术平均粗糙度Ra为6μm以下。
3.根据权利要求1或2所述的电感器用芯部,其中,
所述直筒部的在所述另一端附近的外周面的均方根粗糙度Rq比所述直筒部的在所述倾斜部附近的外周面的均方根粗糙度Rq小。
4.根据权利要求3所述的电感器用芯部,其中,
所述直筒部的在所述倾斜部附近的外周面的均方根粗糙度Rq为10μm以下。
5.根据权利要求1或2所述的电感器用芯部,其中,
所述平均晶粒直径的峰度Ku为0以上。
6.根据权利要求1或2所述的电感器用芯部,其中,
所述平均晶粒直径的偏度Sk为0以上。
7.根据权利要求1或2所述的电感器用芯部,其中,
至少所述倾斜部包含Mo,
晶界层中比晶粒内包含更多Mo。
8.一种电子笔用芯体部,包含:
权利要求1~7的任意一项所述的电感器用芯部;和
芯体,被插入到所述电感器用芯部,被配设为前端部从所述电感器用芯部的一端突出。
9.一种电子笔,包含:
壳体,具有开口;和
权利要求8所述的电子笔用芯体部,
所述电子笔用芯体部被收纳于所述壳体,
所述电子笔用芯体部的所述前端部被配设为从所述壳体的开口突出或者能够从所述壳体的开口突出。
10.一种输入装置,包含:
权利要求9所述的电子笔;和
位置检测装置,具备对所述电子笔所接近的位置进行检测的传感器。
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