[发明专利]GaAs材料单晶层的制造方法和外延生长GaAs材料单晶层的衬底在审
申请号: | 201980021442.5 | 申请日: | 2019-03-26 |
公开(公告)号: | CN111954730A | 公开(公告)日: | 2020-11-17 |
发明(设计)人: | 布鲁诺·吉瑟兰 | 申请(专利权)人: | 索泰克公司 |
主分类号: | C30B23/02 | 分类号: | C30B23/02;C30B25/18;C30B29/42;H01L21/762 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 龚泽亮;庞东成 |
地址: | 法国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | gaas 材料 单晶层 制造 方法 外延 生长 衬底 | ||
一种用于生产GaAs材料的单晶层的方法,其包括将SrTiO3材料的单晶晶种层转移到硅材料的载体衬底,随后外延生长所述GaAs材料的单晶层。
技术领域
本发明涉及一种用于生产GaAs材料的单晶层的方法和用于外延生长这种GaAs材料的单晶层的衬底。
背景技术
某些材料目前不能作为大直径晶片形式的单晶衬底获得。此外,某些材料可以大直径获得,但在品质方面不具有某些特性或规格,特别是关于缺陷密度或所需的电学或光学特性。
发明内容
本发明的目的是通过提供用于制造GaAs材料的单晶层的方法以及用于外延生长GaAs材料的这种单晶层的衬底,来克服现有技术的这些限制。以这种方式,能够解决目前可用的GaAs材料的单晶衬底的尺寸问题。
本发明涉及一种用于生产GaAs材料的单晶层的方法,其包括将SrTiO3材料的单晶晶种层转移到硅材料的载体衬底,随后外延生长所述GaAs材料的单晶层。
在有利的实施方式中,单晶晶种层的厚度小于10μm,优选小于2μm,更优选小于0.2μm。
在有利的实施方式中,将SrTiO3材料的单晶晶种层转移到硅材料的载体衬底包括将SrTiO3材料的单晶衬底接合到载体衬底的步骤,随后是减薄所述SrTiO3材料的单晶衬底的步骤。
在有利的实施方式中,减薄步骤包括形成弱化区,所述弱化区界定预备转移到硅材料的载体衬底的SrTiO3材料的单晶衬底的一部分。
在有利的实施方式中,通过注入原子和/或离子物质来形成弱化区。
在有利的实施方式中,减薄步骤包括在弱化区处分离,从而将SrTiO3材料的单晶衬底的所述部分转移到硅材料的载体衬底,特别地,分离包括施加热和/或机械应力。
在有利的实施方式中,接合步骤是分子粘附步骤。
在有利的实施方式中,SrTiO3材料的单晶晶种层是各自转移到硅材料的载体衬底的多个片的形式。
在有利的实施方式中,硅材料的载体衬底包含可分离界面,所述可分离界面被配置为借助于化学侵蚀和/或借助于机械应力而分离。
本发明还涉及一种用于外延生长GaAs材料的单晶层的衬底,其特征在于,它包含位于硅材料的载体衬底上的SrTiO3材料的单晶晶种层。
在有利的实施方式中,SrTiO3材料的单晶晶种层是多个片的形式。
在有利的实施方式中,硅材料的载体衬底包含可分离界面,所述可分离界面被配置为借助于化学侵蚀和/或借助于机械应力而分离。
本发明还涉及一种用于生产具有与GaAs材料接近的晶格参数的AlxInyGazAslPmNn材料的单晶层的方法,所述方法包括将SrTiO3材料的单晶晶种层转移到硅材料的载体衬底,随后外延生长AlxInyGazAslPmNn材料的单晶层。
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