[发明专利]试样观察装置

说明书

试样观察装置(1)包括：对试样(S)照射面状光(L2)的照射光学系统(3)；以通过面状光(L2)的照射面(R)的方式在一个方向上扫描试样(S)的扫描部(4)；具有相对于照射面(R)倾斜的观察轴(P2)且使通过面状光(L2)的照射而在试样(S)产生的观察光(L3)成像的成像光学系统(5)；取得与由成像光学系统(5)成像的观察光(L3)的光学图像对应的图像数据(31)的图像取得部(6)；和基于由图像取得部(6)取得的图像数据(31)，生成试样(S)的观察图像数据(32)的图像生成部(8)，成像光学系统(5)具有将观察光(L3)的一个轴的光线(L3a)弯曲而不将与该一个轴正交的另一个轴的光线(L3b)弯曲的非轴对称的光学元件。

技术领域

本发明涉及一种试样观察装置。

背景技术

作为观察细胞等具有三维立体结构的试样的内部的方法之一，已知有SPIM(Selective Plane Illumination Microscopy(选择性平面照明显微镜))。例如，专利文献1所记载的断层图像观察装置公开了SPIM的基本原理。在该装置中，将面状光照射于试样，使在试样内部产生的荧光或散射光成像于成像面而取得试样内部的观察图像数据。

作为使用了面状光的其它的试样观察装置，例如，可以列举专利文献2所记载的SPIM显微镜。在该现有的SPIM显微镜中，对试样的配置面具有一定的倾斜角地照射面状光，由具有相对于面状光的照射面正交的观察轴的观察光学系统对来自试样的观察光进行摄像。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开昭62-180241号公报

专利文献2：日本特开2014-202967号公报

发明内容

发明所要解决的问题

如上述专利文献2那样，在使照射光学系统和观察光学系统分别相对于试样的配置面倾斜的结构中，考虑到观察光的像散的影响。在该专利文献2中，为了降低像散的影响，提出了使用具有与水相同程度的折射率的试样配置部，并通过浸液物镜进行试样的观察。但是，在这种结构中，难以一边扫描试样一边进行观察，直到获得观察图像数据为止的处理能力有可能会降低。

本发明为了解决上述问题而完成，其目的在于，提供一种能够减少观察光的像散的试样观察装置。

解决问题的技术手段

本发明的一个方面的试样观察装置包括：对试样照射面状光的照射光学系统；以通过面状光的照射面的方式在一个方向上扫描试样的扫描部；具有相对于照射面倾斜的观察轴且使通过面状光的照射而在试样产生的观察光成像的成像光学系统；取得与由成像光学系统成像的观察光的光学图像对应的图像数据的图像取得部；和基于由图像取得部取得的图像数据，生成试样的观察图像数据的图像生成部，成像光学系统具有将观察光的一个轴的光线弯曲而不将另一个轴的光线弯曲的非轴对称的光学元件。

在该试样观察装置中，成像光学系统具有将观察光的一个轴的光线弯曲而不将另一个轴的光线弯曲的非轴对称的光学元件。由此，即使在成像光学系统的观察轴相对于面状光的照射面倾斜的情况下，也可以减少成像光学系统中的观察光的像散，可以提高观察图像数据的画质。

光学元件也可以是楔形棱镜。在这种情况下，可以优选地构成非轴对称的光学元件。

光学元件也可以是柱面透镜。在这种情况下，可以优选地构成非轴对称的光学元件。

也可以是成像光学系统包括物镜，光学元件配置在照射面和物镜之间。通过在照射面与物镜之间配置光学元件，可以适当地获得上述作用效果。

也可以是成像光学系统包括物镜，光学元件配置在物镜和图像取得部之间。当将光学元件配置在该位置时，光学元件难以与其他构成要素干涉，可以容易地构成成像光学系统。