[发明专利]用于弯曲不敏感多模光纤的模态调节器

权利要求书

1.一种用于对光纤进行测试的测试光源单元，包括：

光源，所述光源用以生成光学光信号；

常规多模光纤，所述常规多模光纤被耦合以在第一端处接收来自所述光源的所述光学光信号；

模态调节器，所述模态调节器被布置成调节沿着所述常规多模光纤的不同模式传播的光学光信号；以及

第一弯曲不敏感BI多模光纤，所述第一弯曲不敏感BI多模光纤的输入端耦合在所述常规多模光纤的第二端处以从所述常规多模光纤接收经调节的光学光信号；以及

来自所述第一弯曲不敏感BI多模光纤的输出，所述输出被配置用于耦合到要被测试的光纤，

其中，所述常规多模光纤包括耦合到第二光纤部分的第一光纤部分，所述第一光纤部分包括阶跃折射率多模光纤，并且所述第二光纤部分包括渐变折射率多模光纤，其中，来自所述光源的光学光信号在所述第一端处进入所述常规多模光纤的所述第一光纤部分，并且所述模态调节器被布置成调节沿着所述第二光纤部分的不同模式传播的光学光信号。

2.根据权利要求1所述的测试光源单元，其中，所述光源包括发光二极管和半导体激光器中的一者。

3.根据权利要求2所述的测试光源单元，其中，所述半导体激光器为垂直腔面发射激光器(VCSEL)。

4.根据权利要求1所述的测试光源单元，其中，在来自所述第一弯曲不敏感BI多模光纤的输出处的光学光信号符合ISO/IEC 14763标准。

5.根据权利要求1所述的测试光源单元，其中，所述模态调节器包括心轴包裹。

6.根据权利要求5所述的测试光源单元，还包括可调光纤环。

7.根据权利要求1所述的光源单元，其中，所述模态调节器包括横向力模态调节器。

8.根据权利要求1所述的测试光源单元，其中，所述常规多模光纤的至少一部分包括阶跃折射率光纤。

9.一种测量弯曲不敏感BI光纤网络中的衰减的方法，包括：

将权利要求1的测试光源单元的输出耦合到所述BI光纤网络的第一位置；

将光信号检测器耦合到所述BI光纤网络的第二位置；以及

检测所述BI光纤网络的第二位置处的光学光信号。