[发明专利]使用FT-IR和化学统计确定沸石的Si-Al比

权利要求书

1.一种方法，包括：

确定第一实际沸石Y样本的傅立叶变换红外FT-IR光谱；

确定所述第一实际沸石Y样本的硅铝Si/Al比；

由计算机系统的一个或多个处理器生成具有与所述第一实际沸石Y样本的属性实质上相似的属性的计算沸石Y样本，所述计算沸石Y样本与包括计算Si/Al比和计算FT-IR光谱的属性相关联；

由所述一个或多个处理器生成校准模型，所述校准模型基于所述第一实际沸石Y样本的Si/Al比和所述第一实际沸石Y样本的FT-IR光谱，将所述计算沸石Y样本的Si/Al比映射到所述计算沸石Y样本的FT-IR光谱；

接收不同于所述第一实际沸石Y样本的第二实际沸石Y样本；

确定所述第二实际沸石Y样本的FT-IR光谱；以及

使用所述校准模型和所述第二实际沸石Y样本的FT-IR光谱来确定所述第二实际沸石Y样本的Si/Al比。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述第一实际沸石Y样本的FT-IR光谱是利用带有氘化硫酸三甘肽(DTGS)检测器的分光光度计利用在4cm^-1的分辨率下的128次扫描的平均值确定的。

3.根据权利要求1所述的方法，其中，所述第一实际沸石Y样本的Si/Al比是通过X射线衍射确定的。

4.根据权利要求1所述的方法，其中，生成所述校准模型包括：

确定所述第一实际沸石Y样本的FT-IR光谱与Si/Al比之间的统计相关性；以及

将所述统计相关性与所述计算沸石Y样本相关联。

5.一种方法，包括：

确定多个第一实际沸石样本中的每一个的傅立叶变换红外FT-IR光谱；

确定所述多个第一实际沸石样本中的每一个的硅铝Si/Al比；

由计算机系统的一个或多个处理器生成校准模型，所述校准模型将多个计算沸石样本的Si/Al比映射到所述多个计算沸石样本的FT-IR光谱；

通过所述一个或多个处理器，使用所述多个第一实际沸石样本中的每一个的FT-IR光谱和所述多个第一实际沸石样本中的每一个的Si/Al比来验证所述校准模型；

接收与所述多个第一实际沸石样本分开的第二实际沸石样本；

确定所述第二实际沸石样本的FT-IR光谱；以及

使用所述校准模型和所述第二实际沸石样本的FT-IR光谱来确定所述第二实际沸石样本的Si/Al比。

6.根据权利要求5所述的方法，其中，每个沸石样本都是八面沸石型沸石样本。

7.根据权利要求5所述的方法，其中，每个沸石样本都是沸石Y样本。

8.根据权利要求5所述的方法，其中，每个实际沸石样本的FT-IR光谱是利用带有氘化硫酸三甘肽(DTGS)检测器的分光光度计利用在4cm^-1的分辨率下的128次扫描的平均值确定的。

9.根据权利要求5所述的方法，其中，每个实际沸石样本的Si/Al比是通过由美国材料与试验协会ASTM核准的方法确定的。

10.根据权利要求9所述的方法，其中，由ASTM核准的所述方法包括X射线衍射。