[发明专利]接口单元在审

专利信息
申请号: 201980024368.2 申请日: 2019-09-11
公开(公告)号: CN111954917A 公开(公告)日: 2020-11-17
发明(设计)人: 刘贤植;裵龙珍;林泳姬;尹汝荣 申请(专利权)人: 株式会社LG化学
主分类号: H01J49/04 分类号: H01J49/04;H01J49/16;H01J49/00;H01J49/06;H01J49/26
代理公司: 北京鸿元知识产权代理有限公司 11327 代理人: 李静;张云志
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 接口 单元
【说明书】:

本发明涉及一种可以用于激光烧蚀‑实时直接分析‑质谱(LA‑DART‑MS)系统的接口单元,更具体地,提供一种接口单元,该接口单元可以设置在DART单元与MS单元之间以提高通过激光束激光烧蚀的样品的检测灵敏度。

技术领域

本申请要求基于2018年09月11日提交的韩国专利申请No.10-2018-0108208、2018年09月27日提交的韩国专利申请No.10-2018-0114885、2019年09月06日提交的韩国专利申请No.10-2019-0110755、2019年09月09日提交的韩国专利申请No.10-2019-0111487和2019年09月10日提交的韩国专利申请No.10-2019-0112165的优先权的权益,这些韩国专利申请中公开的全部内容作为本说明书的一部分并入。

本发明涉及一种可以用于激光烧蚀(LA)-DART-MS系统中的接口单元,更具体地,涉及一种接口单元,该接口单元可以设置在实时直接分析(DART)单元与质谱(MS)单元之间以提高用激光束烧蚀的样品的检测灵敏度。

背景技术

通常,DART-MS(实时直接分析-质谱)系统是一种可以利用从离子源释放的加热的亚稳态He气体和由其产生的反应性离子通过烧蚀和电离目标物质来进行物质的分子量和结构分析的装置。尽管它具有可以通过将样品放置在离子源与MS单元之间在大气压力下进行简单分析的优点,但是应用于更广范围的样品需要开发一种增加大气中样品的浓度并由此改善谱图的信噪比的技术。在这一方面,样品的烧蚀效率和电离效率、产生的离子的有效收集、传输等会是提高检测灵敏度的重要因素。作为这种努力的一部分,应用激光烧蚀技术来增加在大气下的样品的浓度,但是由于大气中的暴露的空间,仍然需要改善烧蚀和电离的组分的有效收集以及向质谱单元的传输。

因此,激光烧蚀-DART-MS系统需要通过在DART电离的出口与MS单元的入口之间引入石英管接口以限制在各个激光束的照射点处的烧蚀的组分和产生的离子的流动来提高检测灵敏度。

发明内容

技术问题

本发明提供一种接口单元,该接口单元可以用于激光烧蚀(LA)-DART-MS系统中,更具体地,提供一种接口单元,该接口单元可以被设置在DART(实时直接分析)电离单元与MS(质谱)单元之间以提高用激光束烧蚀的样品的检测灵敏度。

本发明要解决的技术问题不限于上述技术问题,并且根据以下描述,本发明所属技术领域的普通技术人员将清楚地理解上面未提及的其它技术问题。

技术方案

本发明的接口单元包括:管状主体,该管状主体可以位于DART电离单元的出口与质谱单元的入口之间;和设置在所述主体的一个侧表面上的第一开口,该第一开口被设置为使得烧蚀样品得到的分析物被引入到所述主体中,其中,所述接口单元用于激光烧蚀-DART-MS系统中,并且所述主体可以接收由所述DART电离单元发射的氦束和烧蚀所述样品得到的分析物,并将它们传输至所述质谱单元。

使用本发明的接口单元的激光烧蚀-DART-MS系统包括:样品安装单元,在该样品安装单元上安装样品;光学单元,包括用于用激光束照射样品以烧蚀样品的激光单元;DART电离单元,用于提供氦束以电离烧蚀所述样品得到的分析物;和质谱(MS)单元,用于对电离后的分析物进行分析。所述激光烧蚀DART-MS系统还包括能够将所述光学单元安装在期望位置并且支撑所述光学单元的光学单元支撑件,其中,所述光学单元支撑件可以被固定至所述质谱单元。

有益效果

根据本发明,激光烧蚀-DART-MS系统可以通过在DART电离单元的出口与MS单元的入口之间引入石英管接口以限制在各个激光束的照射点处的烧蚀组分和产生的离子的流动来提高检测灵敏度。

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