[发明专利]用于检测和分析分析物的方法和组合物

权利要求书

1.一种分析物检测复合物，所述分析物检测复合物包含分析物配体、穿越元件、信号元件和锚定标签。

2.权利要求1的分析物检测复合物，其中所述分析物配体位于所述分析物检测复合物的近侧端部，并且其中所述信号元件与所述穿越元件相结合。

3.权利要求1或2的分析物检测复合物，其中所述分析物配体是抗体或其功能片段。

4.权利要求1-3中的任一项的分析物检测复合物，其进一步包含在所述穿越元件的远侧端部上的锚定标签。

5.权利要求4的分析物检测复合物，其中所述锚定标签包含生物素标签。

6.权利要求1-5中的任一项的分析物检测复合物，其中所述信号元件包含寡核苷酸序列、肽序列或聚合物。

7.权利要求6的分析物检测复合物，其中所述信号元件包含约40个核苷酸对的寡核苷酸序列。

8.权利要求7的分析物检测复合物，其中所述寡核苷酸序列包含一系列T残基或一系列N3-氰基乙基-T残基。

9.权利要求1-8中的任一项的分析物检测复合物，其进一步包含第二信号元件。

10.权利要求9的分析物检测复合物，其中所述第二信号元件包含寡核苷酸序列、肽序列或聚合物。

11.权利要求10的分析物检测复合物，其中所述信号元件包含约40个核苷酸对的寡核苷酸序列。

12.权利要求11的分析物检测复合物，其中所述寡核苷酸序列包含一系列T残基或一系列N3-氰基乙基-T残基。

13.一种纳米孔组件，其包含权利要求1-12中的任一项的分析物检测复合物。

14.权利要求13的纳米孔组件，其中所述纳米孔组件是七聚体α-溶血素纳米孔组件。

15.一种用于评估分析物和分析物配体之间的结合强度的方法，所述方法包括：

在第一电压存在下，提供包含根据权利要求13或14的纳米孔组件的芯片，其中所述纳米孔组件设置在膜内，且其中传感电极位于膜邻近或附近；

使所述芯片与包含所述分析物的流体溶液接触，其中所述分析物包含对分析物检测复合物的分析物配体的结合亲和力；

跨膜施加逐渐增加的第二电压，其中所述第二电压的极性与所述第一电压相反；

响应于跨膜施加逐渐增加的第二电压，借助于所述传感电极确定结合信号，其中所述结合信号提供了所述分析物与所述分析物配体结合的指示；和

随着所述第二电压进一步增加，借助于所述传感电极确定解离信号，其中所述解离信号提供了所述分析物和所述分析物配体之间结合强度的指示。

16.权利要求15的方法，其中跨所述膜的第一电压将所述分析物配体定位在所述膜的顺侧。

17.权利要求15或16的方法，其进一步包括借助于所述传感电极确定穿越信号，其中所述穿越信号提供了所述穿越元件位于所述纳米孔组件的孔内的指示。

18.权利要求17的方法，其进一步包括将所述穿越信号与所述结合信号进行对比，其中所述对比提供了所述分析物与所述分析物配体结合的指示。

19.权利要求15 -18中的任一项的方法，其进一步包括从所述解离信号确定与所述分析物从所述分析物配体的解离相关的解离电压。