[发明专利]摄像装置及摄像系统在审
申请号: | 201980025741.6 | 申请日: | 2019-10-25 |
公开(公告)号: | CN111989783A | 公开(公告)日: | 2020-11-24 |
发明(设计)人: | 德原健富;宍戸三四郎;三宅康夫;町田真一 | 申请(专利权)人: | 松下知识产权经营株式会社 |
主分类号: | H01L31/0232 | 分类号: | H01L31/0232;H01L31/10;H01L27/146;H01L27/30;H04N5/369 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 陈建全 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 摄像 装置 系统 | ||
1.一种摄像装置,其具备:
半导体基板,其具有接受来自外部的光的第1面及所述第1面的相反侧的第2面;
第1晶体管,其位于所述第2面上;和
光电转换部,其面向所述第2面,且接受透过所述半导体基板后的光,
所述半导体基板为硅基板或硅化合物基板,
所述光电转换部包含:
与所述第1晶体管电连接的第1电极;
第2电极;和
光电转换层,其位于所述第1电极与所述第2电极之间,且包含吸收1.1μm以上的第1波长的光的材料,
所述第1电极位于所述第2面与所述光电转换层之间,
所述材料的1.0μm以上且低于1.1μm的波长区域中的光谱灵敏度为所述材料的1.1μm以上的波长区域中的光谱灵敏度的最大值的0%~5%的范围内。
2.根据权利要求1所述的摄像装置,其中,所述材料具有量子纳米结构。
3.根据权利要求2所述的摄像装置,其中,所述材料为碳纳米管。
4.根据权利要求2所述的摄像装置,其中,所述材料为包含选自III族元素、IV族元素、V族元素及VI族元素中的至少1种的纳米粒子。
5.根据权利要求2~4中任一项所述的摄像装置,其中,
所述材料将低于1.1μm的第2波长的光吸收,
所述半导体基板将所述第2波长的光吸收。
6.根据权利要求1~5中任一项所述的摄像装置,其中,所述半导体基板的厚度为30μm~800μm。
7.根据权利要求1~6中任一项所述的摄像装置,其进一步具备面向所述第1面的微透镜。
8.根据权利要求7所述的摄像装置,
其进一步具备导电结构,所述导电结构位于所述光电转换部与所述半导体基板之间,且将所述第1电极与所述第1晶体管电连接,
所述第1电极与所述导电结构的连接部从所述第1面的法线方向观察位于比所述微透镜的外缘更靠外侧。
9.根据权利要求1~8中任一项所述的摄像装置,其进一步具备绝缘层,所述绝缘层位于所述光电转换部与所述半导体基板之间,且包含波导结构。
10.根据权利要求1~9中任一项所述的摄像装置,其中,所述第1电极对于所述第1波长的光而言具有80%以上的透射率。
11.根据权利要求1~10中任一项所述的摄像装置,其中,所述第2电极对于所述第1波长的光而言具有80%以上的反射率。
12.根据权利要求1~11中任一项所述的摄像装置,其进一步具备覆盖所述光电转换部的密封膜。
13.根据权利要求1~12中任一项所述的摄像装置,其进一步具备像素,所述像素包含所述光电转换部及所述第1晶体管。
14.根据权利要求13所述的摄像装置,
其进一步具备一个以上的光电二极管,所述光电二极管配置于所述半导体基板内,且包含第1光电二极管,
所述像素进一步包含所述第1光电二极管。
15.根据权利要求14所述的摄像装置,其进一步具备第2晶体管,所述第2晶体管位于所述第2面上,且与所述第1光电二极管电连接。
16.根据权利要求14或15所述的摄像装置,其中,
所述一个以上的光电二极管包含多个光电二极管,
所述像素包含所述多个光电二极管。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的