[发明专利]用于测试LED阵列砖的设备

说明书

本发明涉及一种用于测试LED阵列砖(20)的设备(10)及其方法。设备(10)包括：用于容纳LED阵列砖(20)的测试平台(100)；至少一个测试臂(200)，其与X轴电机(30)相关联并且可滑动地安装在导轨(300)上，以在LED阵列砖(20)上的一排LED之间移动；与待测LED接触的至少两个探针(210)，其形成于至少一个测试臂(200)的下端(200a)上；Z轴电机(50)，其对应于探针(210)中的每一个，并适于在停止位置和测试位置之间致动探针(210)；与Y轴电机(40)相关联的一对的间隔开的滑块(400)，导轨(300)在其上沿与至少一个测试臂(200)的滑动方向垂直的方向可滑动地移动，以将至少一个测试臂(200)移动到另一排待测LED；控制器，其连接到并控制X轴、Y轴和Z轴电机(30，40，50)，所述电机驱动所述至少一个测试臂(200)的滑动移动、所述导轨(300)的滑动移动以及所述探针(210)在垂直于至少一个测试臂(200)和导轨(300)滑动的平面的方向上的移动，其中，至少两个探针(210)独立于彼此可控地移动，并且至少两个探针(210)中的每一个均能够同时或顺序地进行测试，以使测试时间最小化并实现更高的测试处理量。

技术领域

本发明涉及一种用于测试LED阵列砖的设备和方法，尤其涉及一种能够同时或顺序地测试LED阵列砖的设备及其方法，以使测试时间最小化并实现更高的测试处理量。

背景技术

发光二极管(LED)由于其出色的能效、低成本和最大的设计灵活性，因此广泛用于照明应用。为了检测由制造实践中的故障引起的早期故障，LED将需要经历测试或验证过程，例如在不同的测试环境和参数下进行电、光、热或老化测试。通常对半成品形式的LED以及仍在印刷电路板(PCB)阵列砖或陶瓷阵列砖上展示的LED进行测试。

要注意的是，PCB或瓷砖可以具有不同的厚度，并且安装在PCB或瓷砖上的LED可以以多种配置布置在LED阵列中。此外，LED的尺寸以及相邻LED之间的间隔以及LED组之间的间隔可以在一个PCB或瓷砖与另一PCB或瓷砖之间大幅度的变化。用于测试或验证具有LED的PCB或瓷砖的当前做法是，在测试或验证过程期间使用兼容的转换探针或测试套件，其中每种类型的转换探针或测试套件都设计为具有间隔开的探针，这些探针可以与PCB或瓷砖上的LED阵列的某种布局或配置相对应。如果PCB或瓷砖的LED阵列的布局或配置不同，而较早的探针或测试套件无法容纳，则直到安装了另一个兼容的转换探针或测试套件，测试或验证过程才能继续进行。这将使测试或验证过程复杂化并导致停机，并因此降低测试处理量，这可能会由于非生产性时间损失而直接导致制造过程中的损失，因为时间意味着费用，尤其是在批量生产环境中。此外，在测试或验证过程期间，确保PCB或瓷砖上的LED的发光表面不与其他物体表面接触，以防止划伤或损坏有价值的LED，也特别重要。

鉴于这些和其他缺点，期望提供一种能够在具有以不同配置布置的LED的不同PCB或瓷砖上进行测试的设备，以避免测试或验证过程中的停机，从而增加测试处理量。此外，本发明的又一个目的是提供一种设备，该设备能够在与具有LED的PCB或瓷砖的发光表面相对的探针表面上进行测试，以在测试或验证过程期间防止划伤或损坏LED。

发明内容

本发明总体上涉及用于测试LED阵列砖的设备。在优选实施例中，该设备包括：用于容纳LED阵列砖的测试平台，与X轴电机相关联并且可滑动地安装在导轨上的至少一个测试臂，形成在该至少一个测试臂的下端的至少两个探针，与每个探针相对应的Z轴电机，与Y轴电机相关联的间隔开的一对滑块，导轨可滑动地安装在其上，以及用于连接和控制X轴电机、Y轴电机和Z轴电机的控制器。

根据本发明的优选实施例，测试平台设置有至少两个相对放置的固定装置。应当注意的是，该至少两个固定装置被配置为将LED阵列砖保持在测试位置。优选地，测试平台具有在至少两个相对放置的固定装置之间形成的中空空间，以确保当在测试或验证过程期间由至少两个固定装置固保持LED阵列砖时，LED阵列砖的发光表面与测试平台之间没有物理接触。