[发明专利]分光光度计校准方法和系统在审

专利信息
申请号: 201980028430.5 申请日: 2019-04-23
公开(公告)号: CN112020633A 公开(公告)日: 2020-12-01
发明(设计)人: P·威尔逊;D·戴斯 申请(专利权)人: 安捷伦科技有限公司
主分类号: G01J3/00 分类号: G01J3/00;G03B15/03;F21K5/00;H01J61/90;G01J3/12
代理公司: 北京坤瑞律师事务所 11494 代理人: 封新琴
地址: 美国加利*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 分光 光度计 校准 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种校准包括闪光灯的分光光度计的方法,所述方法包括:

在所述分光光度计的单色仪处接收来自所述闪光灯的光,其中所述闪光灯是具有横向或轴向对准的电极的短弧惰性气体闪光灯;

将所述单色仪配置成以选定波长范围的多个波长中的每一个波长逐步透射所接收的光,其中所述波长范围与根据所述闪光灯的已知光谱轮廓的波长特征相关联,并且其中所述波长特征是自吸收特征;

确定所述闪光灯的光谱,其中所述光谱包括所述多个波长中的每一个波长的对应功率或强度值;

通过将所述光谱和与所述闪光灯相关联的预定参考光谱的片段进行比较来确定所述波长特征的波长校准误差值,其中所述预定参考光谱的所述片段包括与所述自吸收特征相关联的一个或多个波长;以及

基于所述波长校准误差值来校准所述分光光度计。

2.根据权利要求1所述的方法,其中所述波长范围被选择成基本上以与来自所述闪光灯的已知光谱轮廓中的所述自吸收特征相关联的波长为中心。

3.根据权利要求1或2所述的方法,进一步包括:

确定一个或多个另外的波长校准误差;以及

基于所述第一波长校准误差值和所述一个或多个另外的波长校准误差来校准所述分光光度计。

4.根据权利要求3所述的方法,其中确定一个或多个另外的波长校准误差包括:

将所述单色仪配置成以选定的另一波长范围的另外多个波长中的每一个波长逐步透射所接收的光,其中所述另一波长范围与根据所述闪光灯的已知光谱轮廓的另一波长特征相关联;

确定所述闪光灯的另一光谱,其中所述另一光谱包括所述另外多个波长中的每一个波长的对应功率或强度值;

通过将所述另一光谱和与所述闪光灯相关联的预定参考光谱的另一片段进行比较来确定所述另一波长特征的另一波长校准误差值,其中所述预定参考光谱的所述另一段包括与所述另一波长特征相关联的一个或多个波长。

5.根据权利要求4所述的方法,其中所述另一波长特征包括(i)另一自吸收特征和(ii)发射特征中的一个或多个。

6.根据权利要求3至5中任一项所述的方法,其中所述方法进一步包括:

选择多个校准误差值和相关联的波长对,其中所述多个对包括所述第一波长校准误差值和所述一个或多个另外的波长校准误差中的至少两个;

将所述多个校准误差值和相关联的波长对拟合到最小二乘二次曲线,以确定所述曲线的代表性方程的参数值;以及

使用所确定的参数值根据所述代表性方程确定特定波长的所述波长校准误差值。

7.根据权利要求6所述的方法,其中所述代表性方程是:

δλ=Eλ2+Fλ,

其中δλ为所述波长校准误差,λ为所述相关联的波长,并且E和F为所述参数值。

8.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中确定波长特征的所述波长校准误差值包括:

根据所确定的光谱确定多个偏移光谱,其中每个偏移光谱与对应的偏移值相关联;

确定多个相关值,所述多个相关值指示所述多个偏移光谱中的每一个与所述预定参考光谱的所述片段之间的相关性;

确定相关值和对应偏移值对的至少一个子集与代表性相关曲线的最佳拟合,以确定所述代表性相关曲线的相关参数值;以及

基于所确定的相关参数值来确定波长特征的所述波长校准误差值。

9.根据权利要求8所述的方法,所述方法进一步包括确定所确定的相关值的最大相关值并使偏移值和相关值对的所述子集以所述最大相关值为中心。

10.根据权利要求8或权利要求9所述的方法,其中所述偏移光谱包括所确定光谱的一个版本,其中所述波长已经偏移了一个偏移值。

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