[发明专利]跟踪逻辑块地址的数据温度

说明书

多种应用可包含如下设备和/或方法：其包含通过一或多个数据温度分析器操作多个累加器来对到逻辑块地址范围的主机写入计数，跟踪存储器装置的逻辑块地址的数据温度。主机写入的数据的数据温度是覆写逻辑块地址处的数据的频率的度量。在各种实施例中，跟踪可包含使所述多个累加器中的每一个进行的计数的起点交错以提供逻辑块地址带区到温度区中的后续分组，这可达成更好的数据分离。可基于一或多个数据温度分析器对所述多个累加器的交错操作提供的分组，将从主机接收的具有逻辑块地址的数据路由到与温度区相关联的块。公开了额外的设备、系统和方法。

优先权申请

本申请案主张2018年3月19日申请的美国申请案序列号15/924,951的优先权益，其以全文引用的方式并入本文中。

背景技术

存储器装置通常提供为计算机或其它电子装置中的内部半导体集成电路。存在许多不同类型的存储器，包含易失性和非易失性存储器。易失性存储器需要功率来维持其数据，且易失性存储器的实例包含随机存取存储器(RAM)、动态随机存取存储器(DRAM)和同步动态随机存取存储器(SDRAM)等等。非易失性存储器可在未被供电时保持所存储数据，且非易失性存储器的实例包含快闪存储器、只读存储器(ROM)、电可擦除可编程ROM(EEPROM)、静态RAM(SRAM)、可擦除可编程ROM(EPROM)、电阻可变存储器，例如相变随机存取存储器(PCRAM)、电阻式随机存取存储器(RRAM)、磁阻式随机存取存储器(MRAM)和三维(3D)XPoint^TM存储器等等。

快闪存储器用作广泛范围的电子应用的非易失性存储器。快闪存储器装置通常包含允许高存储器密度、高可靠性和低功耗的单晶体管浮动栅极或电荷阱存储器单元的一或多个群组。两种常见类型的快闪存储器阵列架构包含NAND和NOR架构，所述架构以每一个的基本存储器单元配置所布置的逻辑形式来命名。存储器阵列的存储器单元通常布置成矩阵。在实例中，阵列的一行中的每一浮动栅极存储器单元的栅极耦合到存取线(例如，字线)。在NOR架构中，阵列的一列中的每一存储单元的漏极耦合到数据线(例如，位线)。在NAND架构中，阵列中的串中的存储器单元在源极线与位线之间源极到漏极地串联耦合在一起。

NOR及NAND架构半导体存储器阵列均通过解码器来存取，所述解码器通过选择耦合到特定存储器单元的栅极的字线来激活特定存储器单元。在NOR架构半导体存储器阵列中，一旦被激活，选定存储器单元便使其数据值置于位线上，从而依据特定单元经编程的状态而使不同电流流动。在NAND架构半导体存储器阵列中，将高偏压电压施加于漏极侧选择栅极(SGD)线。以指定传递电压(例如，Vpass)驱动耦合到每一群组的非所选存储器单元的栅极的字线，以使每一群组的非所选存储器单元作为传递晶体管操作(例如，以不受其所存储的数据值限制的方式传递电流)。电流随后从源极线穿过每个串联耦合的群组流动到位线，仅受每个群组中的所选择的存储器单元限制，从而将所选择的存储器单元的行的当前经编码数据值置于位线上。

NOR或NAND架构半导体存储器阵列中的每个快闪存储器单元可以个体地或共同地编程到一或数个经编程状态。举例来说，单层级单元(SLC)可表示两个编程状态(例如，1或0)中的一个，从而表示一个数据位。然而，闪存存储器单元也可表示大于两个的经编程状态中的一个，从而允许制造较高密度的存储器而不增加存储器单元的数目，这是因为每一单元可表示大于一个的二进制数字(例如，大于一个位)。此类单元可被称为多状态存储器单元、多数字单元或多层级单元(MLC)。在某些实例中，MLC可指代每单元可存储两个数据位(例如，四个经编程状态中的一个)的存储器单元，三层级单元(TLC)可指代每单元可存储三个数据位(例如，八个经编程状态中的一个)的存储器单元，且四层级单元(QLC)可每单元存储四个数据位。MLC在本文中以其较广泛情形使用，以指代每单元可存储大于一个数据位(即，可表示大于两个经编程状态)的任何存储器单元。