[发明专利]有机发光二极管的混色不良检测装置及检测方法

权利要求书

1.一种有机发光二极管的混色不良检测装置，所述有机发光二极管的混色不良检测装置检查多个有机发光二极管以二维方式排列而成的平面形状的单元，其特征在于，所述有机发光二极管的混色不良检测装置包括：

透镜部，能够被设置成与所述单元的表面平行或倾斜；

传感器部，形成为多个图像传感器以二维方式排列而成的平面形状，感测通过所述透镜获得的所述单元的图像，并且能够被设置成与所述透镜部的表面平行或倾斜；以及

控制部，调节所述透镜部的角度或所述传感器部的角度。

2.根据权利要求1所述的有机发光二极管的混色不良检测装置，其特征在于，

在将所述单元的表面称为物平面，将所述透镜部的透镜的中心面称为透镜平面，将所述传感器部的表面称为传感器平面的情况下，

所述控制部调节所述透镜部的角度或所述传感器部的角度，以满足所述物平面的延长面、所述透镜平面的延长面和所述传感器平面的延长面相交于一直线的沙姆定律。

3.根据权利要求2所述的有机发光二极管的混色不良检测装置，其特征在于，

在将所述透镜的中心点称为透镜中心点，将所述传感器部的中心点称为传感器中心点，将连接所述透镜中心点和所述传感器中心点的直线与所述物平面相交的点称为基准点，将满足沙姆定律的点称为沙姆点，

将所述物平面与所述透镜平面形成的角称为光学系统倾斜角，将需要从所述透镜平面和所述传感器平面平行的状态开始，根据所述光学系统倾斜角以满足沙姆定律的方式旋转所述传感器部的角度称为沙姆角的情况下，

所述控制部通过以下式计算所述沙姆角：

其中，θ为沙姆角，α为光学系统倾斜角，C为基准点与传感器中心点之间的距离，R为基准点与沙姆点之间的距离。

4.根据权利要求1所述的有机发光二极管的混色不良检测装置，其特征在于，

所述有机发光二极管的混色不良检测装置包括倾斜马达，用于调节所述传感器部的角度。

5.根据权利要求1所述的有机发光二极管的混色不良检测装置，其特征在于，

所述有机发光二极管的混色不良检测装置包括变焦马达，用于调节所述透镜部与所述传感器部之间的距离。

6.根据权利要求2所述的有机发光二极管的混色不良检测装置，其特征在于，

在通过堆叠多个透镜来形成所述透镜部时，所述透镜平面被确定为最靠近所述物平面的透镜的中心面。

7.一种有机发光二极管的混色不良检测方法，使用根据权利要求3所述的有机发光二极管的混色不良检测装置，其特征在于，所述有机发光二极管的混色不良检测方法包括：

基准图像感测步骤，感测基准图像，所述基准图像是所述光学系统倾斜角为0且所述透镜平面和所述传感器平面平行的状态下的所述单元的整个区域的图像；

视角倾斜调节步骤，将所述光学系统倾斜角调节为非0的角度；

沙姆定律满足步骤，将所述传感器平面的角度调节为所述沙姆角以满足沙姆定律；

倾斜图像感测步骤，感测倾斜图像，所述倾斜图像是所述沙姆定律满足步骤之后的状态下的所述单元的整个区域的图像；以及

混色不良检测步骤，通过分析所述基准图像和所述倾斜图像来检测混色不良。

8.根据权利要求7所述的有机发光二极管的混色不良检测方法，其特征在于，

所述混色不良检测步骤包括：

图像变换步骤，将所述倾斜图像的外廓形状变换为与所述基准图像的外廓形状相同，并生成变换图像；

分区划分步骤，将所述基准图像和所述变换图像划分为预定的多个分区；以及

检测信息获取步骤，针对各所述分区获取包括平均颜色和光强度的检测信息。