[发明专利]电磁波检测装置以及信息获取系统

说明书

电磁波检测装置(10)具有第一行进部(16)、第二行进部(17)、第一检测部(19)、以及第二检测部(20)。第一行进部(16)使入射至基准面(ss)的电磁波按每个像素(px)向特定的方向行进。第二行进部(17)具有第一面(s1)、第二面(s2)、第三面(s3)、第四面(s4)、第五面(s5)、以及第六面(s6)。第一面(s1)使从第一方向入射的电磁波向第二方向行进且使向第三方向行进的电磁波向第四方向行进。第二面(s2)分离向第二方向(d2)行进的电磁波而使其向第三方向(d3)以及第五方向(d5)行进。第一检测部(19)检测从第三面(s3)射出的电磁波。第二检测部(20)检测从第六面(s6)射出的电磁波。

相关申请的相互参照

本申请主张2018年5月15日在日本申请专利的日本特愿2018-94103号 的优先权，并将该在先申请的全部内容引入本申请用于参照。

技术领域

本发明涉及一种电磁波检测装置以及信息获取系统。

背景技术

已知有一种装置，该装置具有如DMD(Digital Micro mirror Device：数 字微镜器件)那样的对入射至每个像素的电磁波的行进方向进行切换的元件。 例如，已知一种装置，该装置使物体的像暂时一次成像在DMD表面，使在 该DMD表面上一次成像的像进一步通过透镜而在CCD表面上二次成像(参 照专利文献1)。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本专利3507865号公报

发明内容

第一观点的电磁波检测装置具有：

第一行进部，沿着基准面配置有多个像素，使入射至所述基准面的电 磁波按每个所述像素向特定的方向行进；

第二行进部，包括：第一面，使从第一方向入射的电磁波向第二方向 行进且使向第三方向行进的电磁波向第四方向行进；第二面，分离向所述 第二方向行进的电磁波而使其向所述第三方向以及第五方向行进；第三 面，将向所述第四方向行进的电磁波射出；第四面，将向所述第五方向行 进的电磁波向所述基准面射出且使从所述基准面再次入射的电磁波向第 六方向行进；第五面，使向所述第六方向行进的电磁波向第七方向行进； 以及第六面，将向所述第七方向行进的电磁波射出；

第一检测部，检测从所述第三面射出的电磁波；以及

第二检测部，检测从所述第六面射出的电磁波。

另外，第二观点的信息获取系统包括：

电磁波检测装置，具有：第一行进部，沿着基准面配置有多个像素， 使入射至所述基准面的电磁波按每个所述像素向特定的方向行进；第二行 进部，包括：第一面，使从第一方向入射的电磁波向第二方向行进且使向 第三方向行进的电磁波向第四方向行进；第二面，分离向所述第二方向行 进的电磁波而使其向所述第三方向以及第五方向行进；第三面，将向所述 第四方向行进的电磁波射出；第四面，将向所述第五方向行进的电磁波向 所述基准面射出且使从所述基准面再次入射的电磁波向第六方向行进；第 五面，使向所述第六方向行进的电磁波向第七方向行进；以及第六面，将 向所述第七方向行进的电磁波射出；第一检测部，检测从所述第三面射出 的电磁波；以及第二检测部，检测从所述第六面射出的电磁波；以及

控制部，基于由所述第一检测部以及所述第二检测部检测的电磁波的检 测结果来获取与周围相关的信息。

附图说明

图1是表示包含第一实施方式的电磁波检测装置的信息获取系统的概略 结构的结构图。

图2是表示图1的电磁波检测装置的概略结构的结构图。

图3是表示用于说明图1的发射部、第二检测部、以及控制部构成的测 距传感器进行的测距的原理的电磁波的发射时期和检测时期的时序图。