[发明专利]热轧钢板及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201980029882.5 申请日: 2019-04-26
公开(公告)号: CN112088225B 公开(公告)日: 2021-11-19
发明(设计)人: 平岛哲矢;丰田武 申请(专利权)人: 日本制铁株式会社
主分类号: C22C38/00 分类号: C22C38/00;C21D9/46;C22C38/16
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 周欣
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 热轧 钢板 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种热轧钢板,其特征在于,具有下述化学组成,所述化学组成以质量%计含有

C:0.010%以上且0.200%以下、

Si:1.00%以下、

Mn:3.0%以下、

P:0.040%以下、

S:0.004%以下、

Al:0.10%以下、

N:0.004%以下、

Nb:0%以上且0.20%以下、

Ti:0%以上且0.15%以下、

Mo:0%以上且1.00%以下、

Cu:0%以上且0.50%以下及

Ni:0%以上且0.50%以下、

剩余部分包含Fe及杂质,

金属组织包含90体积%以上的马氏体和0体积%以上且10体积%以下的剩余部分组织,所述剩余部分组织包含贝氏体或铁素体中的一者或两者,

L截面和C截面中的原奥氏体的平均粒径分别为1.0μm以上且10.0μm以下,所述L截面为与轧制方向平行的截面,所述C截面为平行于与所述轧制方向正交的方向的截面,

所述L截面的原奥氏体的所述平均粒径与所述C截面的所述原奥氏体的所述平均粒径之比即长宽比为1.8以下,

所述L截面及所述C截面中的所述剩余部分组织的平均粒径分别为5.0μm以下,

所述L截面的所述剩余部分组织的所述平均粒径与所述C截面的所述剩余部分组织的所述平均粒径之比即长宽比为2.0以下,

所述原奥氏体的平均粒径、及所述L截面的原奥氏体的所述平均粒径与所述C截面的所述原奥氏体的所述平均粒径之比即长宽比按照如下操作来确定:

在将热轧钢板的板宽设为W时,在热轧钢板的宽度方向上距离一端为1/4W或3/4W附近,按照L截面及C截面成为观察面的方式采集试样,将截面进行镜面研磨后,用苦味酸进行腐蚀而使原奥氏体晶粒的晶界显现出,之后,使用扫描型电子显微镜,在距离钢板表面为板厚的1/4的深度位置处,在L截面的情况下对钢板的轧制方向400μm×厚度方向400μm的区域进行观察,在C截面的情况下对钢板的板宽方向400μm×厚度方向400μm的区域进行观察,通过将所得到的图像使用图像解析装置进行解析,从而求出所述原奥氏体的平均粒径,在将所得到的L截面及C截面中的原奥氏体的平均粒径中的较大者设为Dpγ(L)、将较小者设为Dpγ(S)时,将由Dpγ(L)/Dpγ(S)得到的值设定为所述L截面的原奥氏体的所述平均粒径与所述C截面的所述原奥氏体的所述平均粒径之比即长宽比,

所述剩余部分组织的平均粒径、及所述L截面的所述剩余部分组织的所述平均粒径与所述C截面的所述剩余部分组织的所述平均粒径之比即长宽比按照如下操作来确定:

在将钢板的板宽设为W时,在钢板的宽度方向上距离一端为1/4W或3/4W处,按照L截面及C截面成为观察面的方式采集试样,将截面进行镜面研磨后,进行电解研磨,之后,在距离钢板表面为板厚的1/4的深度位置处,在L截面的情况下对钢板的轧制方向400μm×厚度方向400μm的区域、在C截面的情况下对钢板的板宽方向400μm×厚度方向400μm的区域以0.1μm的测定间隔进行EBSD解析,将基于通过以上方法而测定的各测定点的晶体取向信息而求出的相邻的测定点彼此的晶体取向之差设定为取向差,将取向差为15°以上的相邻的测定点彼此的中间判断为晶界,将由该晶界所围成的区域定义为剩余部分组织的晶粒,将由下述数学式1算出的值D设定为剩余部分组织的平均粒径,式中,N表示平均粒径的评价区域中所含的晶粒的数目,Ai表示第i个晶粒的面积,i=1、2、……、N,di表示第i个的晶粒的当量圆直径,

数学式1

在将通过以上方法获得的L截面及C截面中的剩余部分组织的平均粒径中的较大者设为Dr(L)、将较小者设为Dr(S)时,将由Dr(L)/Dr(S)获得的值设定为所述L截面的所述剩余部分组织的所述平均粒径与所述C截面的所述剩余部分组织的所述平均粒径之比即长宽比。

2.根据权利要求1所述的热轧钢板,其特征在于,所述化学组成以质量%计含有选自

Nb:0.01%以上且0.20%以下、

Ti:0.01%以上且0.15%以下、

Mo:0.01%以上且1.00%以下、

Cu:0.01%以上且0.50%以下及

Ni:0.01%以上且0.50%以下

中的1种或2种以上。

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