[发明专利]用于测试系统的处理器更换套件

说明书

一种示例性系统包括：容器，该容器用于容纳被测器件(DUT)；天线，该天线用于与该DUT交换信号，其中该信号中的至少一些信号用于执行该DUT的辐射测试；和盖，该盖被配置为与该容器配合以形成用于包封该DUT的壳体。该壳体用于以物理地或电磁地中的至少一种将该DUT隔离。

技术领域

本说明书整体涉及用于诸如自动测试设备(ATE)的测试系统的处理器更换套件。

背景技术

诸如ATE的测试系统可被配置为对诸如计算机芯片的电子器件执行传导测试。在示例中，器件接口板(DIB)包括与测试系统交接的特定于客户的硬件。DIB可包括多个插座，该多个插座中的每个插座可保持单独的电子器件，并使得测试系统能够向该电子器件发送信号以及从该电子器件接收信号。信号可用于测试电子器件的操作以及用于其他合适的目的。以这种方式进行的测试可被称为传导测试，因为电子器件与DIB之间进行的连接是传导连接(例如，该连接可以是金属对金属)，从而使得信号能够经由DIB在测试系统和电子器件之间流动。

与传导测试相反，辐射测试涉及使用无线传输的信号进行测试。例如，辐射测试可用于测试电子器件上的射频(RF)天线、微波天线或其他类型的天线的操作。辐射测试也可适当地用于测试电子器件的除天线以外的部件。

发明内容

一种示例性系统包括：容器，该容器用于容纳被测器件(DUT)；天线，该天线用于与该DUT交换信号，其中该信号中的至少一些信号用于执行该DUT的辐射测试；和盖，该盖被配置为与该容器配合以形成用于包封该DUT的壳体。该壳体用于以物理地或电磁地中的至少一种将该DUT隔离。示例性系统可包括下列特征中的一个或多个(单独地或组合地)。

该系统可被配置为连接到测试系统的器件接口板(DIB)。该DIB可包括用于接纳该DUT的插座。该DIB可包括用于接纳一个或多个其他DUT的一个或多个其他插座。该壳体可用于将该DUT与该一个或多个其他DUT隔离。该DIB可包括传统DIB，该传统DIB也可配置用于在不存在该壳体的情况下并且在辐射测试的环境之外使用。该壳体可用于将该DUT与以下项中的一者或多者物理地和电磁地隔离：其他DUT、介电材料、金属材料、磁性材料或电磁信号。

该盖可包括柱塞，该柱塞能够在该容器内移动以向该DUT施加压力，从而使该DUT连接到测试插座。该系统可被配置为连接到测试系统，该测试系统包括用于接纳该DUT的插座。该天线可被布置到该插座的一侧。该天线可包括多个天线。该多个天线中的每个天线可被布置到该插座的一侧。该天线可布置在该DUT或该DIB中的至少一者的下方。该插座可为该DIB的一部分。该天线可位于该DUT下方。该天线可位于该DIB下方。该天线可为该DIB的一部分。

该DUT可具有包括电连接件的表面。该盖可包括柱塞，该柱塞被配置为通过包含该电连接件的该表面保持该DUT并且安装该DUT，使得该电连接件背离该插座。该系统可包括一个或多个电导管以连接到该电连接件。该系统可被配置为连接到测试系统，该测试系统包括用于接纳该DUT的插座。

该盖可包括柱塞以接触该DUT。该天线可布置在该柱塞内。该柱塞可位于该插座正上方，并且可被配置为在该容器内相对于该插座移动。该柱塞可包括具有一种或多种电特性的材料。该一个或多个电特性可包括介电常数、磁导率或电导率的范围。该材料可至少部分地包括聚醚醚酮(PEEK)。该柱塞可沿着该柱塞的纵向尺寸的至少一部分具有多个孔。该柱塞可沿着该柱塞的纵向尺寸的至少一部分具有单个孔。该柱塞可沿着该柱塞的纵向尺寸的至少一部分为中空的。该柱塞可包括用于在输送到该容器期间经由抽吸来保持该DUT的真空通道。

该壳体的内部可至少部分地衬有用于抑制回声的材料。该壳体可被配置为容纳该DUT和至少一个其他DUT。该DUT可通过具有不同频带的信号与该至少一个其他DUT电磁地隔离。与该DUT交换的信号可在第一频带中，与该至少一个其他DUT交换的信号可在至少一个第二频带中，并且该第一频带可不同于该至少一个第二频带。