[发明专利]分光测量装置和分光测量方法

权利要求书

1.一种分光测量装置，包括：

空间分辨率调整单元，其被配置成调整所述分光测量装置的空间分辨率；以及

波长分辨率调整单元，其被配置成调整所述分光测量装置的波长分辨率，其中，

所述空间分辨率调整单元在不改变所述分光测量装置的波长分辨率的情况下改变空间分辨率。

2.根据权利要求1所述的分光测量装置，其中，

所述波长分辨率调整单元在不改变所述分光测量装置的空间分辨率的情况下改变波长分辨率。

3.根据权利要求1所述的分光测量装置，其中，

所述空间分辨率调整单元改变空间分辨率，以满足将从所述分光测量装置的会聚单元到分光成像单元的输出光保持为平行光的条件。

4.根据权利要求1所述的分光测量装置，其中，

所述空间分辨率调整单元调整所述分光测量装置的会聚单元的构成元件的参数并且改变空间分辨率。

5.根据权利要求1所述的分光测量装置，其中，

所述空间分辨率调整单元调整以下参数(a)至(c)中的至少一个并且改变空间分辨率：

(a)物镜的焦距；

(b)物镜与准直透镜之间的距离；以及

(c)准直透镜的焦距，

这些参数是所述分光测量装置的会聚单元的构成元件的参数。

6.根据权利要求1所述的分光测量装置，其中，

所述波长分辨率调整单元调整所述分光测量装置的分光成像单元的构成元件的参数，并且改变波长分辨率。

7.根据权利要求1所述的分光测量装置，其中，

所述波长分辨率调整单元

调整分光元件与成像透镜之间的距离，所述距离是所述分光测量装置的分光成像单元的构成元件的参数，并且

改变波长分辨率。

8.根据权利要求1所述的分光测量装置，还包括：

算术处理单元，其被配置成被输入所述分光测量装置的传感器的接收到的光信号值并执行算术处理，其中，

所述算术处理单元执行算术处理，该算术处理获取所述传感器的每个像素的像素值并且恢复要测量的对象的位置(x，y)以及对应于每个位置的波长光(λ：光谱信息)。

9.根据权利要求8所述的分光测量装置，其中，

所述算术处理单元生成数据立方体，所述数据立方体包括所述要测量的对象的空间方向(XY)和波长方向(λ)上的三维数据。

10.一种由分光测量装置执行的分光测量方法，所述方法包括：

由空间分辨率调整单元调整所述分光测量装置的空间分辨率的空间分辨率调整步骤；

由波长分辨率调整单元调整所述分光测量装置的波长分辨率的波长分辨率调整步骤；

使传感器经由所述分光测量装置的会聚单元和分光单元接收要测量的对象的输出光的图像成像步骤；以及

由算术处理单元基于所述传感器的像素值来生成包括所述要测量的对象的空间方向(XY)和波长方向(λ)上的三维数据的数据立方体的数据立方体生成步骤，其中，

由所述空间分辨率调整单元进行的所述空间分辨率调整步骤是在不改变所述分光测量装置的波长分辨率的情况下改变空间分辨率的步骤。