[发明专利]通过将金属氧化到较高化合价的水样测量

权利要求书

1.一种用于测量水样的至少一种特性的方法，包括：

将水样与过渡金属引入到包括一个或多个电极在内的测量设备；

通过在所述测量设备的阳极和阴极之间施加电势，对过渡金属进行氧化以产生较高化合价金属；

使用所述较高化合价金属作为催化剂，对水样内的材料进行氧化；

使用从由以下项组成的组中选择的测量设备，基于已氧化的材料来测量水样的特性：电化学测量设备和光学测量设备；以及

基于所述特性的测量，对输送到所述测量设备的至少一种试剂和所述电势进行优化。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述较高化合价金属包括具有可测颜色的金属。

3.根据权利要求2所述的方法，其中，对水样内的材料进行氧化导致所述较高化合价金属的颜色的可测比色变化。

4.根据权利要求3所述的方法，其中，测量水样的特性包括测量所述比色变化。

5.根据权利要求1所述的方法，其中，所述测量设备包括设置在所述阳极和所述阴极之间的隔膜，并且其中，所述隔膜的位置能够在所述阳极和所述阴极之间进行调整。

6.根据权利要求1所述的方法，其中，所述阳极和所述阴极之间的距离是能够调整的。

7.根据权利要求1所述的方法，其中，所述阳极或所述阴极中的至少一个包括SP3代固态碳电极材料。

8.根据权利要求1所述的方法，其中，测量特性包括测量总有机碳。

9.根据权利要求1所述的方法，其中，对材料进行氧化包括使用紫外扰动。

10.根据权利要求1所述的方法，其中，所述测量包括使用以下项中的至少一项：比色检测和pH确定。

11.一种用于测量水样的至少一种特性的测量设备，包括：

至少一个腔室；

一串或多串电极，至少部分地设置在所述至少一个腔室中的一个腔室中；

处理器；以及

存储设备，所述存储设备存储用于能够由所述处理器执行以下操作的指令：

将水样与过渡金属引入到包括一个或多个电极在内的测量设备；

通过在所述测量设备的阳极和阴极之间施加电势，对过渡金属进行氧化以产生较高化合价金属；

使用所述较高化合价金属作为催化剂，对水样内的材料进行氧化；

使用从由以下项组成的组中选择的测量设备，基于已氧化的材料来测量水样的特性：电化学测量设备和光学测量设备；以及

基于所述特性的测量，对输送到所述测量设备的至少一种试剂和所述电势进行优化。

12.根据权利要求11所述的测量设备，其中，所述较高化合价金属包括具有可测颜色的金属。

13.根据权利要求12所述的测量设备，其中，对水样内的材料进行氧化导致所述较高化合价金属的颜色的可测比色变化。

14.根据权利要求13所述的测量设备，其中，测量水样的特性包括测量所述比色变化。

15.根据权利要求11所述的测量设备，其中，所述测量设备包括设置在所述阳极和所述阴极之间的隔膜，并且其中，所述隔膜的位置能够在所述阳极和所述阴极之间进行调整。

16.根据权利要求11所述的测量设备，其中，所述阳极和所述阴极之间的距离是能够调整的。

17.根据权利要求11所述的测量设备，其中，所述阳极和所述阴极中的至少一个包括SP3代固态碳电极材料。