[发明专利]具有准直器的X射线管,用于封闭的X射线管的准直器设备和这种准直器设备的应用在审
申请号: | 201980033500.6 | 申请日: | 2019-05-17 |
公开(公告)号: | CN112154520A | 公开(公告)日: | 2020-12-29 |
发明(设计)人: | D·施蒂克勒 | 申请(专利权)人: | 依科视朗国际有限公司 |
主分类号: | G21K1/02 | 分类号: | G21K1/02;H01J35/18;H05G1/02 |
代理公司: | 深圳市百瑞专利商标事务所(普通合伙) 44240 | 代理人: | 金辉 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 具有 准直器 射线 用于 封闭 设备 这种 应用 | ||
本发明涉及一种X射线管(1),其具有壳体(2)、靶(3)和用于在所述靶(3)处产生X射线(5)的出射窗(4),其中出射窗(4)空气密封地固定在壳体(2)的开口(14)中,其中出射窗(4)与靶(3)相对置并且设置在壳体(2)之内,其中在X射线管(1)处设置有具有准直器开口(20)的准直器盘(19),所述准直器盘由强烈地吸收X射线的材料构成,其中准直器盘(19)在其背离靶的侧上与出射窗(4)相对置并且位于壳体(2)的表面的下方。此外,本发明涉及一种用于X射线管(1)的准直器设备(18),具有底架(25),在所述底架上设置有用于将准直器设备(18)固定在X射线管(1)的管法兰(9)上的固定设备(24),并且具有承载壁(23),所述承载壁与底架(25)可松开地连接并且在底架(25)的与固定设备(24)相同的侧上设置,并且具有准直器盘(19),所述准直器盘由强烈地吸收X射线的材料构成,所述准直器盘(19)具有准直器开口(20)并且所述准直器盘设置在承载壁(23)的背离底架(25)的端部上。最后,所述目的也通过将根据本发明的准直器设备(1)在X射线管(1)上,尤其是在根据本发明的X射线管(1)上的应用实现,用于减少在物品(8)的成像时借助于由X射线管(1)发射的X射线(5)在探测器(6)上的半影。
技术领域
本发明涉及一种X射线管,具有壳体、靶和用于在靶处产生X射线的出射窗,以及一种用于X射线管的准直器设备并且还有一种这样的准直器设备用于减少在物品的成像时的半影的应用。
背景技术
本发明一般涉及封闭的X射线管,然而所述X射线管是在具有用于锥形束的出射窗的双极X射线管中特别有利的。在此理解为如下X射线管,其中靶和出射窗位于不同的电位并且其出射窗并且其出射窗允许较大面积的照射。尽管根据本发明的X射线管也包含这种用于医学应用的X射线管,但是本发明特别有利地在工业X射线管中,例如在无干扰的检查(NDT)的范围内,可使用,所述检查具有尤其在至少320kV的范围内的用于电子的较高的加速电压。特别有利地,本发明可使用在具有小的焦斑的X射线管中,例如在具有250μm至1mm的范围内的焦点大小的迷你焦点X射线管中。封闭的X射线管通常具有由铍构成的出射窗。铍由于其小的叙述和密度被使用,以便尽可能少地吸收产生的辐射。铍窗在其尺寸方面匹配于X射线管的。其厚度用于为了保证在外部正常压力和X射线管中的真空之间的固定的分离的稳定性。X射线管的kV等级越高,那么所使用的铍窗距离更远、更大且更厚。直至一定的能量,X射线辐射通过元件吸收和散射。如果光子的能量高,那么输送元件仅还被散射。针对铍所述极限例如在50keV处。已经从大致15keV的能量起散射的份额占主要部分。
X射线管改进用于照射薄膜。物品为此靠近薄膜没有明显的放大地放置。借助于使用具有离散的像素网格的现代的数字的平板探测器,在正常情况下放大地进行工作,所述放大使得靠近源。
已证实的是,铍窗的散射的辐射产生漫射上游发光点(发光面积),这也可以被称为明显的焦斑,其光谱在被使用的锥体中仅略低于X射线管的初级光斑下方。这种辐射既可以照射物体,也可以部分从后方照射物体,使得产生半影。在投影中,这以半影的形式可见,所述半影的伸展与所使用的放大倍率相关。穿过物品的附加的辐射来自与初级焦斑不同的角度,还会使物体后面的探测器的计数率失真。
改善图像质量的最常见方法是将钢板、钨板或铅板形式的准直器从两侧或四侧固定在设置于管壳体的外面的管法兰上。这些准直器可以是位置固定的,可互换的或电动的。然而,由此上述产生破坏性半影的效果仅略微降低,因为大部分铍散射辐射可以穿过开口。
发明内容
本发明的目的是,提供一种借助于来自X射线管的X射线辐射减小在物品成像时的半影大小的简单的可能性。
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