[发明专利]使用根据电流传感器数据计算的经校正的K空间轨迹的磁共振成像

权利要求书

1.一种磁共振成像系统(100、300、500)，其被配置用于从成像区(108)采集磁共振成像数据(144)，其中，所述磁共振成像系统包括：

磁体(104)，其用于在所述成像区内生成主磁场；

梯度线圈系统(110、112、113)，其用于在所述成像区内生成梯度磁场，其中，所述梯度线圈系统还包括用于在被供应以电流时生成所述梯度磁场的一组梯度线圈(110)，其中，所述一组梯度线圈中的每个梯度线圈被配置用于沿着轴线(122、123、124)生成所述梯度磁场，其中，所述梯度线圈系统包括被配置用于向所述一组梯度线圈中的每个梯度线圈供应所述电流的梯度线圈放大器(112)，并且其中，所述梯度线圈系统还包括电流传感器系统(113)，所述电流传感器系统被配置用于测量描述由所述梯度线圈放大器供应给所述一组梯度线圈中的每个梯度线圈的所述电流的电流传感器数据(146)；

存储器(134)，其包含机器可执行指令(140)，其中，所述存储器还包含被配置用于控制所述磁共振成像系统以根据磁共振成像协议来采集所述磁共振成像数据的脉冲序列命令(142)，其中，所述存储器还包含被配置用于将所述电流传感器数据映射到所述成像区内的磁场分量的选定梯度线圈传递函数(148)，其中，所述磁场分量包括所述梯度磁场；

处理器(130)，其用于控制所述磁共振成像系统，其中，对所述机器可执行指令的运行使所述处理器进行以下操作：

利用所述脉冲序列命令来控制(200)所述磁共振成像系统以采集所述磁共振成像数据；

在所述磁共振成像数据的所述采集期间记录(202)所述电流传感器数据；

使用所述电流传感器数据和所述选定梯度线圈传递函数来计算(204)经校正的k空间轨迹(150)；并且

根据所述磁共振成像协议，使用所述磁共振成像数据和所述经校正的k空间轨迹来重建(206)经校正的磁共振图像(152)；

其中，所述梯度放大器被配置为接收梯度控制信号(700)，其中，所述存储器还包含被配置用于将所述梯度控制信号映射到由所述梯度放大器供应的所述电流的选定梯度放大器传递函数(506)，其中，所述脉冲序列命令被配置为在所述磁共振成像数据的采集期间提供所述控制信号，其中，对所述机器可执行指令的运行还使所述处理器使用所述控制信号和所述选定梯度放大器传递函数来计算(604)经校正的控制信号(510)，其中，所述梯度放大器被配置为在所述磁共振成像数据的采集期间利用所述经校正的控制信号而被控制。

2.根据权利要求1所述的磁共振成像系统，其中，所述存储器还包括一组梯度线圈传递函数(302)，其中，对所述机器可执行指令的运行还使所述处理器接收(400)描述所述磁共振成像协议的一个或多个采集参数(304)，其中，对所述机器可执行指令的运行还使所述处理器使用所述采集参数来选取(402)所述选定梯度线圈传递函数。

3.根据权利要求2所述的磁共振成像系统，其中，所述采集参数包括以下各项中的任何一项：对象高度、对象重量、对象支撑件位置、室温、磁共振成像协议类型、接收线圈的类型、以及其组合。

4.根据权利要求3所述的磁共振成像系统，其中，所述采集参数还包括以下各项中的任何一项：低温恒温器温度、低温恒温器状态、梯度线圈冷却剂温度、梯度线圈温度、梯度线圈阻抗、以及其组合。

5.根据前述权利要求中的任一项所述的磁共振成像系统，其中，对所述机器可执行指令的运行还使所述处理器控制所述磁共振成像系统以进行以下操作：

使用所述电流传感器系统来测量校准电流传感器数据，并且使用所述磁共振成像系统来测量梯度线圈系统响应；并且

在采集所述磁共振成像数据之前，使用所述校准电流传感器数据和所述梯度线圈系统响应来计算所述选定梯度线圈传递函数。

6.根据前述权利要求中的任一项所述的磁共振成像系统，其中，对所述机器可执行指令的运行还使所述处理器使用在所述磁共振成像数据的采集期间记录的所述电流传感器数据来修改所述选定梯度放大器传递函数。