[发明专利]对象的描绘

权利要求书

1.一种用于表征样品中的一个或多个对象的方法，所述方法包括以下步骤：

-使用一个或多个透镜收集来自所述样品的透射、折射、散射、衍射或发射光，包括荧光和/或冷光，从而形成收集光，

-通过所述收集光在传感器表面上形成所述对象的至少第一图像和第二图像，其中，对于至少所述第一图像和所述第二图像，不同地非对称调制所述收集光，

-通过将所述第一图像与所述第二图像进行比较，处理所述至少第一图像和第二图像，用以

-基于所述一个或多个对象的描绘图在这两个图像中的平移来确定图像细胞仪或显微镜的焦点，或者

-基于至少一个对象的描绘图在所述至少第一图像和第二图像之间移动了多少来确定所述至少一个对象沿轴线的位置，其中，来自所述样品的光沿着所述一个或多个透镜的方向限定所述轴线。

2.根据权利要求1所述的方法，还包括以下步骤：用来自照射元件的入射光照射所述样品，或者使所述样品暴露于化学反应、电流和/或电压、或应力。

3.根据权利要求1所述的方法，其中，所述方法包括将所述样品置于图像细胞仪、成像流式细胞仪、不是流式细胞仪的图像细胞仪、或显微镜中的步骤。

4.根据权利要求1所述的方法，其中，处理至少所述第一图像和所述第二图像包括：

-从所述第二图像减去所述第一图像，

-计算所述第一图像和所述第二图像的平均值，

-计算所述第一图像和所述第二图像之间的比率，

-将所述第一图像和所述第二图像互相关，或

-对所述第一图像和/或所述第二图像进行去卷积。

5.根据权利要求1所述的方法，其中，来自所述样品的光包括来自所述样品的至少第一波长和第二波长的发射光，并且其中，所述方法包括确定所述对象中的至少一个对象发射了具有所述第一波长还是所述第二波长的光的步骤。

6.根据权利要求1所述的方法，其中，所述方法包括确定从所述样品发射的光的波长的步骤。

7.根据权利要求1所述的方法，其中，非对称调制所述收集光意味着

-阻挡所述收集光中的一些，和/或

-相移所述收集光中的一些。

8.根据权利要求1所述的方法，其中

-既非对称调制又对称非对称调制所述第一图像和所述第二图像，或者

-对称调制在与周围环境相比不同的至少两个位置调制的收集光。

9.根据权利要求1所述的方法，其中，通过在收集光中插入以下实现非对称调制收集光，或者在与周围环境相比不同的至少两个位置调制收集光

-具有至少一个或两个开口的板，

-至少一个或两个不透明区域，和/或

-至少一个或两个相移区域。

10.根据权利要求2所述的方法，其中，所述照射元件是在200nm和1,000nm之间的范围内发射的光源。

11.根据权利要求10所述的方法，其中，所述范围在250nm和800nm之间。

12.根据权利要求10所述的方法，其中，所述范围在300nm和700nm之间。

13.根据权利要求10所述的方法，其中，所述范围在250nm和400nm之间。

14.根据权利要求10所述的方法，其中，所述调制意味着反映相位的变化。

15.根据权利要求1所述的方法，其中所述一个或多个对象在悬浮液或胶体中，其中所述悬浮液或所述胶体的分散介质是固体、液体或气体。