[发明专利]用于针对样本改善光透导力的使用传感器分子的扫描探针显微镜

权利要求书

1.一种扫描探针显微镜，包括：

悬臂，具有用于连接具有介电常数(ε)的至少一材料和样本的金属探针尖头；

光源，用于将电磁辐射传输到金属探针尖头和样本之间的连接；

振荡驱动装置，连接于所述悬臂并振荡所述悬臂；

共振传感器材料，位于所述金属探针尖头和所述样本表面之间；

检测系统，作为用于检测利用共振传感器材料的电磁辐射吸收的检测系统，通过所述共振传感器材料的电磁辐射吸收依赖于所述样本的至少一种材料的介电常数(ε)。

2.根据权利要求1所述的扫描探针显微镜，其特征在于，

所述检测系统为测量与所述样本连接时作用于所述探针尖头的光透导力或者力梯度，进而检测通过所述共振传感器材料的所述电磁辐射吸收。

3.根据权利要求1所述的扫描探针显微镜，其特征在于，

所述检测系统为在所述探针尖头和所述样本的连接中检测通过所述探针尖头、所述共振传感器材料及所述样本的组合散射的所述电磁辐射，进而检测通过所述共振传感器材料的所述电磁辐射吸收。

4.根据权利要求1所述的扫描探针显微镜，其特征在于，

所述光源包括可调激光，所述共振传感器材料在所述可调激光的波长范围内具有吸收共振。

5.根据权利要求1所述的扫描探针显微镜，其特征在于，

所述共振传感器材料附着于所述探针尖头。

6.根据权利要求5所述的扫描探针显微镜，其特征在于，

所述光源包括可调激光，所述共振传感器材料在所述可调激光的波长范围内具有吸收共振。

7.根据权利要求5所述的扫描探针显微镜，其特征在于，

所述共振传感器材料包括至少附着在所述探针尖头的顶点的材料的薄膜。

8.根据权利要求5所述的扫描探针显微镜，其特征在于，

所述共振传感器材料包括至少附着在所述探针尖头的顶点的材料的自组装单层。

9.根据权利要求5所述的扫描探针显微镜，其特征在于，

所述共振传感器材料为沿着所述探针尖头的长度以平行于所述探针尖头的轴的方向厚度不大于50nm。

10.根据权利要求5所述的扫描探针显微镜，其特征在于，

所述共振传感器材料包括含硅氧烷材料，来自所述光源的电磁辐射生成所述含硅氧烷材料的至少一个吸收共振。

11.根据权利要求1所述的扫描探针显微镜，其特征在于，

所述共振传感器材料附着于所述样本。

12.根据权利要求1所述的扫描探针显微镜，其特征在于，

所述共振传感器材料的吸收共振为波长在红外线或者可视光波长范围内。

13.一种扫描探针显微镜动作方法，包括如下的步骤：

用扫描探针显微镜的金属探针尖头驱动悬臂，进而金属探针尖头振荡具有介电常数(ε)的至少一种材料和样本以进行连接；

作为调制用电磁辐射照射所述探针尖头和所述样本之间的连接的光源的步骤，共振传感器材料调制位于所述金属探针尖头和所述样本表面之间的所述光源；及

作为检测通过所述共振传感器材料的电磁辐射吸收的步骤，通过所述共振传感器材料的电磁辐射吸收依赖于所述样本的至少一种材料的介电常数(ε)，以检测所述电磁辐射的吸收。

14.根据权利要求13所述的扫描探针显微镜动作方法，其特征在于，

检测所述电磁辐射的吸收的步骤包括测量在与所述样本连接时作用于所述探针尖头的光透导力或者力梯度的步骤。