[发明专利]集成电路中的故障注入攻击检测在审
申请号: | 201980036459.8 | 申请日: | 2019-04-26 |
公开(公告)号: | CN112204728A | 公开(公告)日: | 2021-01-08 |
发明(设计)人: | 苏巴亚·乔得利·亚纳马达拉;米卡尔·伊夫·玛丽·瑞恩;阿尼什·达纳库拉;罗马·鲁德拉 | 申请(专利权)人: | ARM有限公司 |
主分类号: | H01L23/00 | 分类号: | H01L23/00;G06K19/073 |
代理公司: | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 | 代理人: | 朱亦林 |
地址: | 英国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 集成电路 中的 故障 注入 攻击 检测 | ||
1.一种系统,包括:
电路块,耦合到通用电力网;
至少一个独立电力网;
检测器,耦合到所述至少一个独立电力网以检测所述独立电力网的电力特性的变化;以及
传感器,耦合到所述至少一个独立电力网并且位于具有所述电路块的芯片的有源层中,其中,所述传感器对至少一种类型的故障注入攻击做出响应。
2.根据权利要求1所述的系统,其中,所述传感器中的至少一个传感器对至少两种类型的故障注入攻击做出响应。
3.根据权利要求2所述的系统,其中,所述至少两种类型的故障注入攻击包括从由以下各项组成的组中选择的至少两项:电磁故障注入、光学故障注入和主体偏置注入。
4.根据权利要求1所述的系统,其中,所述至少一个传感器包括反相器。
5.根据权利要求1所述的系统,其中,所述传感器包括一个或多个晶体管、二极管、电容器、电阻器、或它们的组合。
6.根据权利要求1所述的系统,其中,所述检测器包括电流传感器。
7.根据权利要求1所述的系统,其中,所述电路块包括密码块。
8.根据权利要求7所述的系统,其中,所述传感器位于散布在所述密码块内的所述有源层中。
9.根据权利要求7所述的系统,其中,所述传感器位于密码块的子块之间的所述有源层中。
10.根据权利要求1所述的系统,其中,所述至少一个独立电力网包括电荷存储设备。
11.根据权利要求1所述的系统,其中,所述至少一个独立电力网包括:
静默电源;以及
电压源线、第一电压线、或所述电压源线和所述第一电压线两者。
12.根据权利要求1所述的系统,其中,所述至少一个独立电力网包括至少两个独立电力网,每个独立电力网具有耦合到它的相应的传感器,这些相应的传感器具有重叠的覆盖区域。
13.一种计算机实现的方法,包括:
确定集成电路(IC)的高保护区域;
在芯片布局中的包括在所述高保护区域中的位置处执行多个定制单元的自动放置,所述定制单元包括用于传感器的组件;
在所述多个定制单元周围执行用于所述IC的标准单元的自动放置;
执行通用电力网的系统电力线的自动布线以将所述系统电力线耦合到所述标准单元;以及
执行独立电力网的电力线的自动布线以将所述独立电力网的所述电力线耦合到所述定制单元。
14.根据权利要求13所述的方法,其中,所述多个定制单元包括用于至少两种类型的传感器的单元,所述传感器中的至少一个传感器对至少两种类型的故障注入攻击做出响应。
15.根据权利要求14所述的方法,其中,所述至少两种类型的故障注入攻击包括从由以下各项组成的组中选择的至少两项:电磁故障注入、光学故障注入和主体偏置注入。
16.根据权利要求13所述的方法,其中,所述多个定制单元中的定制单元实现对至少两种类型的故障注入攻击做出响应的传感器。
17.根据权利要求16所述的方法,其中,所述至少两种类型的故障注入攻击包括从由以下各项组成的组中选择的至少两项:电磁故障注入、光学故障注入和主体偏置注入。
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