[发明专利]检查系统有效
申请号: | 201980037660.8 | 申请日: | 2019-05-22 |
公开(公告)号: | CN112219099B | 公开(公告)日: | 2022-09-13 |
发明(设计)人: | 增田一也;上田知彦;大塚健一郎;伊藤恒有;津崎哲文;菱川善文;畑山均 | 申请(专利权)人: | 住友电工光学前沿株式会社;住友电气工业株式会社 |
主分类号: | G01M11/00 | 分类号: | G01M11/00;H04B10/073 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 何立波;张天舒 |
地址: | 日本神*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 检查 系统 | ||
1.一种检查系统,其对包含多个光线路径的光传输路径进行检查,
该检查系统具有:
检查装置,其具有输出试验光的光源和对光的强度进行测定的第1功率计;以及
1个或多个连接部件,其各自将所述多个光线路径中的1对光线路径光学地连接,
所述1对光线路径中的第1光线路径具有第1端和与所述第1端相反侧的第2端,
所述1对光线路径中的第2光线路径具有第3端和与所述第3端相反侧的第4端,
所述1个或多个连接部件将所述第2端和所述第4端光学地连接,
所述光源向所述第1端射入所述试验光,
所述第1功率计对所述试验光在所述1对光线路径中传输而从所述第3端输出的第1输出光的强度即第1强度进行测定,
所述1个或多个连接部件各自具有2输入2输出的耦合器,
所述耦合器的2个输出彼此光学地连接,
所述第2端及所述第4端各自与所述耦合器的2个输入光学地连接,
所述检查装置还具有第2功率计,该第2功率计对从所述第1端输出的第2输出光的强度即第2强度进行测定,
所述第2输出光是通过由所述耦合器对所述试验光进行分波而得到的。
2.根据权利要求1所述的检查系统,其中,
所述检查装置基于所述第1强度,对所述第1光线路径中的第1光损耗及所述第2光线路径中的第2光损耗的合计即合计损耗进行计算,基于所述合计损耗,对所述第1光线路径及所述第2光线路径有无异常进行判定。
3.根据权利要求1或2所述的检查系统,其中,
所述检查装置基于所述第1强度及所述第2强度,分别对所述第1光线路径中的第1光损耗和所述第2光线路径中的第2光损耗进行计算,基于所述第1光损耗而对所述第1光线路径有无异常进行判定,并且基于所述第2光损耗而对所述第2光线路径有无异常进行判定。
4.根据权利要求1或2所述的检查系统,其中,
所述检查装置还具有试验机,该试验机对从所述第1端输出的返回光的强度的时间变化进行测定。
5.根据权利要求1或2所述的检查系统,其中,
所述检查装置还具有:
第1光开关,其从包含所述第1光线路径的第1光线路径组,选择性地对与所述光源光学地连接的光线路径进行切换;以及
第2光开关,其从包含所述第2光线路径的第2光线路径组,选择性地对与所述第1功率计光学地连接的光线路径进行切换。
6.根据权利要求3所述的检查系统,其中,
所述检查装置还具有试验机,该试验机对从所述第1端输出的返回光的强度的时间变化进行测定。
7.根据权利要求6所述的检查系统,其中,
所述检查装置还具有:
第1光开关,其从包含所述第1光线路径的第1光线路径组,选择性地对与所述光源光学地连接的光线路径进行切换;以及
第2光开关,其从包含所述第2光线路径的第2光线路径组,选择性地对与所述第1功率计光学地连接的光线路径进行切换。
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