[发明专利]检查系统有效

专利信息
申请号: 201980037660.8 申请日: 2019-05-22
公开(公告)号: CN112219099B 公开(公告)日: 2022-09-13
发明(设计)人: 增田一也;上田知彦;大塚健一郎;伊藤恒有;津崎哲文;菱川善文;畑山均 申请(专利权)人: 住友电工光学前沿株式会社;住友电气工业株式会社
主分类号: G01M11/00 分类号: G01M11/00;H04B10/073
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人: 何立波;张天舒
地址: 日本神*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 检查 系统
【权利要求书】:

1.一种检查系统,其对包含多个光线路径的光传输路径进行检查,

该检查系统具有:

检查装置,其具有输出试验光的光源和对光的强度进行测定的第1功率计;以及

1个或多个连接部件,其各自将所述多个光线路径中的1对光线路径光学地连接,

所述1对光线路径中的第1光线路径具有第1端和与所述第1端相反侧的第2端,

所述1对光线路径中的第2光线路径具有第3端和与所述第3端相反侧的第4端,

所述1个或多个连接部件将所述第2端和所述第4端光学地连接,

所述光源向所述第1端射入所述试验光,

所述第1功率计对所述试验光在所述1对光线路径中传输而从所述第3端输出的第1输出光的强度即第1强度进行测定,

所述1个或多个连接部件各自具有2输入2输出的耦合器,

所述耦合器的2个输出彼此光学地连接,

所述第2端及所述第4端各自与所述耦合器的2个输入光学地连接,

所述检查装置还具有第2功率计,该第2功率计对从所述第1端输出的第2输出光的强度即第2强度进行测定,

所述第2输出光是通过由所述耦合器对所述试验光进行分波而得到的。

2.根据权利要求1所述的检查系统,其中,

所述检查装置基于所述第1强度,对所述第1光线路径中的第1光损耗及所述第2光线路径中的第2光损耗的合计即合计损耗进行计算,基于所述合计损耗,对所述第1光线路径及所述第2光线路径有无异常进行判定。

3.根据权利要求1或2所述的检查系统,其中,

所述检查装置基于所述第1强度及所述第2强度,分别对所述第1光线路径中的第1光损耗和所述第2光线路径中的第2光损耗进行计算,基于所述第1光损耗而对所述第1光线路径有无异常进行判定,并且基于所述第2光损耗而对所述第2光线路径有无异常进行判定。

4.根据权利要求1或2所述的检查系统,其中,

所述检查装置还具有试验机,该试验机对从所述第1端输出的返回光的强度的时间变化进行测定。

5.根据权利要求1或2所述的检查系统,其中,

所述检查装置还具有:

第1光开关,其从包含所述第1光线路径的第1光线路径组,选择性地对与所述光源光学地连接的光线路径进行切换;以及

第2光开关,其从包含所述第2光线路径的第2光线路径组,选择性地对与所述第1功率计光学地连接的光线路径进行切换。

6.根据权利要求3所述的检查系统,其中,

所述检查装置还具有试验机,该试验机对从所述第1端输出的返回光的强度的时间变化进行测定。

7.根据权利要求6所述的检查系统,其中,

所述检查装置还具有:

第1光开关,其从包含所述第1光线路径的第1光线路径组,选择性地对与所述光源光学地连接的光线路径进行切换;以及

第2光开关,其从包含所述第2光线路径的第2光线路径组,选择性地对与所述第1功率计光学地连接的光线路径进行切换。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于住友电工光学前沿株式会社;住友电气工业株式会社,未经住友电工光学前沿株式会社;住友电气工业株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201980037660.8/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top