[发明专利]数字千分尺有效

专利信息
申请号: 201980039557.7 申请日: 2019-06-07
公开(公告)号: CN112352135B 公开(公告)日: 2023-07-07
发明(设计)人: 松本光司;藤川勇二;谷中慎一郎;斋藤修 申请(专利权)人: 株式会社三丰
主分类号: G01B3/18 分类号: G01B3/18;G01B5/02
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇;张会华
地址: 日本神*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 数字 千分尺
【说明书】:

[问题]提供了一种数字千分尺,其适合于测量作为强磁体的待测对象物。[解决方案]该数字千分尺包括主体框架、测微螺杆、套管部和检测测微螺杆的移位的移位检测器。主体框架包括U字型框架部和测微螺杆保持部,测微螺杆保持部设置于U字型框架部的一端侧以便在远离砧座的方向上具有长度。测微螺杆由测微螺杆保持部保持,被设置成能够相对于砧座在轴向上进退,并且测微螺杆在一个端面上包括接触子。主体框架和测微螺杆由非磁性材料形成。

技术领域

本发明涉及数字千分尺。

背景技术

近来,对混合动力车辆和电动车辆的需求已经增加,并且永磁同步马达被大量研发和制造。强磁体对于高性能永磁同步马达必不可少。因此,要结合在永磁同步马达中的磁体的加工精度很重要。

通常,诸如千分尺或卡尺等的小型测量装置是方便的并且适于测量小型零件的加工精度,但是小型测量装置的诸如框架等的主要部分是铁(铸铁)产品。因此,当作为强磁体的待测对象物靠近小型测量装置时,两者彼此强力粘住。于是,无法进行测量,并且难以将它们分开。因此,如果小型零件是强磁体,则需要使用诸如坐标测量机等的大型测量机来测量小型零件。这极大地影响了制造效率和成本。

已经提出了适于在磁场中使用的多种小型测量装置。然而,目前还没有在实际使用中耐用的数字型装置。

现有技术文献

专利文献

专利文献1:日本实开昭51-82480

专利文献2:日本特开昭60-236001

专利文献3:日本实开昭50-50053

专利文献4:日本特开2009-243883

专利文献5:日本特许4072282

专利文献6:日本实用新型注册第3184265

专利文献7:日本特开昭58-115301

发明内容

发明要解决的问题

为了使小型测量装置适合在磁场中使用,小型测量装置的组成部分可以由非磁性材料形成。然而,具有强度的非磁性材料是难以切割的材料。例如,在千分尺中,需要高精度地在测微螺杆(spindle)上形成外螺纹并在主体框架上攻丝内螺纹,但是难以在非磁性材料上进行这种加工。因此,期望能够测量作为强磁体的待测对象物的实用的精确数字千分尺。

本发明的目的是提供一种数字千分尺,其适于测量作为强磁体的待测对象物。

用于解决问题的方案

根据本发明的数字千分尺包括:

主体框架,其包括U字型框架部和测微螺杆保持部,所述U字型框架部包括设置于U字型框架的一端的内侧的砧座,所述测微螺杆保持部设置于所述U字型框架部的另一端侧并且具有在远离所述砧座的方向上的长度;

测微螺杆,其由所述测微螺杆保持部保持,所述测微螺杆能够相对于所述砧座在轴向上进退,并且所述测微螺杆在一个端面上包括接触子;

套管部,其将旋转操作转换为所述测微螺杆的直线运动;和

移位检测器,其检测所述测微螺杆的移位,其中,

所述主体框架和所述测微螺杆由非磁性材料形成,

所述套管部和所述移位检测器布置于所述测微螺杆保持部的另一端侧,并且

所述测微螺杆保持部的长度为预定值以上。

在本发明的实施方式中,优选的是,

所述测微螺杆保持部的长度为测量范围d以上,

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