[发明专利]制造电子器件的方法在审

专利信息
申请号: 201980042594.3 申请日: 2019-06-25
公开(公告)号: CN112313816A 公开(公告)日: 2021-02-02
发明(设计)人: H·黑尔;M·科赫;N·史密斯 申请(专利权)人: 默克专利有限公司
主分类号: H01L51/52 分类号: H01L51/52;C08G61/08
代理公司: 北京市中咨律师事务所 11247 代理人: 李颖;林柏楠
地址: 德国达*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 制造 电子器件 方法
【权利要求书】:

1.制造膜的方法,所述方法包括步骤

(a)提供基底件;

(b)在基底件上沉积如权利要求25至37的任何一项或多项中所述的制剂;和

(c)使所述制剂中包含的单体聚合以获得聚环烯烃层。

2.根据权利要求1的方法,其中所述基底件是电子器件,优选发光器件。

3.根据权利要求1或权利要求2的方法,其中在步骤(b)中通过选自浸涂、旋涂、喷墨印刷、喷嘴印刷、凸版印刷、丝网印刷、凹版印刷、刮刀涂布、滚筒印刷、反向滚筒印刷、平版胶印、干式平版胶印、柔性版印刷、卷筒印刷、喷涂、幕涂、刷涂、狭缝模头涂布或移印的方法沉积所述制剂。

4.根据权利要求1至3的任何一项或多项的方法,其中在步骤(b)中通过喷墨印刷或喷嘴印刷沉积所述制剂。

5.根据权利要求1至4的任何一项或多项的方法,其中步骤(c)通过辐射或热或两者进行。

6.根据权利要求1至5的任何一项或多项的方法,其进一步包括步骤(d)将一个或多个附加层沉积到聚环烯烃层上。

7.根据权利要求6的方法,其中在步骤(d)中,所述一个或多个附加层选自有机层、无机层和杂化层。

8.根据权利要求6或权利要求7的方法,其中所述一个或多个附加层是包含选自如下材料的无机层:氧化硅、氮化硅、氮氧化硅、氮氧化铝、氧化镁、氧化铝、氮化铝、氧化钛、氮化钛、氧化钽、氮化钽、氧化铪、氮化铪、氧化锆、氮化锆、氧化铈、氮化铈、氧化锡、氮化锡和任何这些的任何共混物的材料;优选氮化硅。

9.根据权利要求6至8的任何一项或多项的方法,其中在步骤(d)中,所述一个或多个附加层包含触摸板的层。

10.电子器件,其包含

(a)基底件;和

(b)聚环烯烃膜(层),其包含权利要求15至24的任何一项或多项的聚环烯烃。

11.根据权利要求10的电子器件,其中所述基底件是电子器件,优选发光器件。

12.根据权利要求10或权利要求11的电子器件,其中所述基底件是依序包含第一电极(阳极)、发光层和第二电极(阴极)的发光器件。

13.根据权利要求10至12的任何一项或多项的电子器件,其中所述基底件是依序包含第一电极(阳极)、空穴传输层、发光层、电子传输层和第二电极(阴极)的有机发光器件。

14.根据权利要求10至13的任何一项或多项的电子器件,其进一步包含在第二电极上的如权利要求8中所述的无机层。

15.聚环烯烃,其包含最多20重量%的不同于H、F和C的原子,重量%相对于聚环烯烃的总重量计。

16.根据权利要求15的聚环烯烃,其具有在20℃和1,000Hz下测定的最多4.0的电容率ε。

17.根据权利要求15或权利要求16的聚环烯烃,其包含至少50重量%的环烯烃结构单元,重量%相对于聚环烯烃的总重量计。

18.根据权利要求15至17的任何一项或多项的聚环烯烃,其具有通过GPC测定的至少100,000g mol-1的重均分子量。

19.根据权利要求15至18的任何一项或多项的聚环烯烃,其中所述聚环烯烃是聚降冰片烯。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于默克专利有限公司,未经默克专利有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201980042594.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top