[发明专利]制造电子器件的方法在审
申请号: | 201980042594.3 | 申请日: | 2019-06-25 |
公开(公告)号: | CN112313816A | 公开(公告)日: | 2021-02-02 |
发明(设计)人: | H·黑尔;M·科赫;N·史密斯 | 申请(专利权)人: | 默克专利有限公司 |
主分类号: | H01L51/52 | 分类号: | H01L51/52;C08G61/08 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人: | 李颖;林柏楠 |
地址: | 德国达*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 制造 电子器件 方法 | ||
1.制造膜的方法,所述方法包括步骤
(a)提供基底件;
(b)在基底件上沉积如权利要求25至37的任何一项或多项中所述的制剂;和
(c)使所述制剂中包含的单体聚合以获得聚环烯烃层。
2.根据权利要求1的方法,其中所述基底件是电子器件,优选发光器件。
3.根据权利要求1或权利要求2的方法,其中在步骤(b)中通过选自浸涂、旋涂、喷墨印刷、喷嘴印刷、凸版印刷、丝网印刷、凹版印刷、刮刀涂布、滚筒印刷、反向滚筒印刷、平版胶印、干式平版胶印、柔性版印刷、卷筒印刷、喷涂、幕涂、刷涂、狭缝模头涂布或移印的方法沉积所述制剂。
4.根据权利要求1至3的任何一项或多项的方法,其中在步骤(b)中通过喷墨印刷或喷嘴印刷沉积所述制剂。
5.根据权利要求1至4的任何一项或多项的方法,其中步骤(c)通过辐射或热或两者进行。
6.根据权利要求1至5的任何一项或多项的方法,其进一步包括步骤(d)将一个或多个附加层沉积到聚环烯烃层上。
7.根据权利要求6的方法,其中在步骤(d)中,所述一个或多个附加层选自有机层、无机层和杂化层。
8.根据权利要求6或权利要求7的方法,其中所述一个或多个附加层是包含选自如下材料的无机层:氧化硅、氮化硅、氮氧化硅、氮氧化铝、氧化镁、氧化铝、氮化铝、氧化钛、氮化钛、氧化钽、氮化钽、氧化铪、氮化铪、氧化锆、氮化锆、氧化铈、氮化铈、氧化锡、氮化锡和任何这些的任何共混物的材料;优选氮化硅。
9.根据权利要求6至8的任何一项或多项的方法,其中在步骤(d)中,所述一个或多个附加层包含触摸板的层。
10.电子器件,其包含
(a)基底件;和
(b)聚环烯烃膜(层),其包含权利要求15至24的任何一项或多项的聚环烯烃。
11.根据权利要求10的电子器件,其中所述基底件是电子器件,优选发光器件。
12.根据权利要求10或权利要求11的电子器件,其中所述基底件是依序包含第一电极(阳极)、发光层和第二电极(阴极)的发光器件。
13.根据权利要求10至12的任何一项或多项的电子器件,其中所述基底件是依序包含第一电极(阳极)、空穴传输层、发光层、电子传输层和第二电极(阴极)的有机发光器件。
14.根据权利要求10至13的任何一项或多项的电子器件,其进一步包含在第二电极上的如权利要求8中所述的无机层。
15.聚环烯烃,其包含最多20重量%的不同于H、F和C的原子,重量%相对于聚环烯烃的总重量计。
16.根据权利要求15的聚环烯烃,其具有在20℃和1,000Hz下测定的最多4.0的电容率ε。
17.根据权利要求15或权利要求16的聚环烯烃,其包含至少50重量%的环烯烃结构单元,重量%相对于聚环烯烃的总重量计。
18.根据权利要求15至17的任何一项或多项的聚环烯烃,其具有通过GPC测定的至少100,000g mol-1的重均分子量。
19.根据权利要求15至18的任何一项或多项的聚环烯烃,其中所述聚环烯烃是聚降冰片烯。
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