[发明专利]用于检测在基板的表面上或在基板内的磷酸盐和/或硫酸盐的方法、LWIR检测装置的用途及LWIR成像系统

权利要求书

1.一种用于检测在基板的表面上和/或在基板内的磷酸盐和/或硫酸盐的非晶和/或结晶结构的方法，所述方法包含以下步骤：

i)提供基板，所述基板包含在基板的表面上或在基板内的磷酸盐和/或硫酸盐的非晶和/或结晶结构，

ii)提供LWIR检测装置，

iii)利用至少在8至14μm的整个波长范围内的红外光来辐照i)的基板，以及

iv)利用步骤ii)中提供的LWIR检测装置来检测因步骤iii)中的辐照导致的由基板以及磷酸盐和/或硫酸盐的非晶和/或结晶结构散射和/或发射反射的电磁辐射的强度。

2.如权利要求1所述的方法，其中基板是纸、片材、箔、卡纸板、聚合物膜、编织聚合纺织物、非编织聚合纺织物，和/或其中基板包含纤维素。

3.如前述权利要求中任一项所述的方法，其中在基板的表面上或在基板内的磷酸盐和/或硫酸盐是磷酸钙和/或硫酸钙。

4.如前述权利要求中任一项所述的方法，其中基板被层合或涂布，并且优选地被层合或涂布有聚合物层，其中层合物或涂布层在8至14μm的整个波长范围内至少部分地透明。

5.如前述权利要求中任一项所述的方法，其中LWIR检测装置是辐射热计或包含碲镉汞的传感器，并且优选地，LWIR检测装置是辐射热计。

6.如前述权利要求中任一项所述的方法，其中在步骤iii)中，由至少一个聚焦/散射装置聚焦和/或散射所辐照的红外光。

7.如权利要求6所述的方法，其中所述至少一个聚焦装置是准直器，和/或所述至少一个聚焦/散射装置是透镜，和/或如果存在红外光发射源则所述至少一个聚焦和/或聚焦/散射装置位于红外光发射源与基板之间。

8.如前述权利要求中任一项所述的方法，其中在步骤iv)中，由至少一个收集装置收集并可选地聚焦散射和/或发射的电磁辐射。

9.如权利要求8所述的方法，其中所述至少一个收集装置是物镜，并且优选地是透镜，和/或所述至少一个收集装置位于基板与LWIR检测装置之间。

10.如前述权利要求中任一项所述的方法，其中在步骤iv)中，由至少一个滤波装置对散射和/或发射的电磁辐射进行滤波。

11.如权利要求10所述的方法，其中所述至少一个滤波装置是光学滤波器，优选地是带通滤波器或者长通滤波器与短通滤波器的组合或者可调谐滤波器，优选地是可调谐MEMS法布里-珀罗滤波器，更优选地是在8.8至9.3μm或10.0至10.6μm或11.3至11.8μm的范围中的带通滤波器或者8μm的长通滤波器与8.8μm的短通滤波器的组合或者10.3μm的长通滤波器与10.8μm的短通滤波器的组合，或者在8至14μm的范围中的可调谐滤波器，并且优选地具有100nm及以下的光谱分辨率，和/或所述至少一个滤波装置位于基板与LWIR检测装置之间，并且如果存在物镜则所述至少一个滤波装置优选地位于物镜与LWIR检测装置之间。

12.如前述权利要求中任一项所述的方法，其中所述方法包含由计算机装置读出步骤iv)中的检测到的电磁辐射的强度的量的另外步骤，其中所述计算机装置优选地是移动电话。

13.一种LWIR检测装置的用途，所述LWIR检测装置用于检测由涂布于基板的表面上和/或存在于基板中的磷酸盐和/或硫酸盐的非晶和/或结晶结构散射和/或发射反射的电磁辐射的强度。

14.一种基板的用途，所述基板至少部分地涂布有磷酸盐和/或硫酸盐的非晶和/或结晶结构或其内包含磷酸盐和/或硫酸盐的非晶和/或结晶结构，用于经由可由LWIR检测装置检测的电磁辐射散射和/或发射提供信息。