[发明专利]红外成像装置

说明书

本发明涉及一种红外成像装置，包括：‑低温恒温器(4)，‑红外检测器(6)，该红外检测器被布置在低温恒温器(4)内部，以便接收来自成像装置外部的光学信号，‑线性偏振器，该线性偏振器被配置为在光学信号到达红外检测器(6)之前沿可变的偏振方向使光学信号偏振，线性偏振器包括：第一偏振元件(22)，该第一偏振元件被布置在低温恒温器(4)的外部并且相对于低温恒温器(4)能够旋转，以及第二偏振元件(24)，该第二偏振元件被布置在低温恒温器(4)的内部，该第二偏振元件处于第一偏振元件(22)和红外检测器(6)之间并且相对于低温恒温器(4)是固定的。

技术领域

本发明涉及一种红外成像装置。

背景技术

一种已知的问题是在通过用于室外使用的成像装置产生的图像中的太阳反射。

成像装置在例如文献CN107883945A、WO2014/170670和CN106706132A中被描述。

为了使这种太阳反射的影响最小化，已知在成像装置中包括位于检测器上游的线性偏振器。具体地，线性偏振器可以消除通过装置接收的光学信号中的带有太阳反射的第一分量，并允许不带有太阳反射的第二分量穿过，使得该第二分量随后被检测器接收。

当然，第一分量的偏振方向是可变的。因此，为了确保在任何情况下都可以消除太阳反射，线性偏振器被配置为在光学信号到达红外检测器之前，使通过装置接收的光学信号沿可变的偏振方向偏振。

此外，在具有对红外波长敏感的检测器的红外成像装置中，还会出现额外的问题：红外检测器很容易接收由装置本身的内部部件辐射的干扰信号，这些内部部件是在红外检测器所敏感的波长处的强发射器。这降低了检测器的信噪比。

为了解决这个额外的问题，已知将红外检测器安置在低温恒温器的内部。这种低温恒温器将检测器的环境维持在低温下，通常在80开氏度，这具有减弱干扰信号在检测器的视场(该视场具有有限的立体角)之外的传播的效果。

然而，低温恒温器不能完全消除干扰信号，因为干扰信号仍然可以在检测器的视场中传播。因此，这些干扰信号仍然可以从线性偏振器的面对检测器的下游面反射出来，然后通过在检测器的视场中传播而到达不受保护的检测器。

因此，可以设想将具有可变的偏振方向的线性偏振器安置在低温恒温器的内部，以便使被反射的干扰信号也被“冷却”。

然而，这将意味着将增加低温恒温器的尺寸，这将增加红外成像装置的成本。

此外，包括这样的偏振器实现起来将非常复杂，因为这样的偏振器通常被安装成相对于检测器能够移动。确保在低温恒温器的内部的这种可移动性而不降低其保持在低温下的性能将会是非常复杂的。

发明内容

本发明的目的是在不显著增加红外成像装置的成本和复杂性的情况下，更有效地减少通过红外成像装置产生的图像中的太阳反射。

因此，提供了一种红外成像装置，包括：

·低温恒温器；

·红外检测器，该红外检测器被布置在低温恒温器的内部以便接收来自成像装置外部的光学信号；

·线性偏振器，该线性偏振器被配置为在光学信号到达红外检测器之前沿可变的偏振方向使光学信号偏振，其中，线性偏振器包括：第一偏振元件，该第一偏振元件被布置在低温恒温器的外部并且相对于低温恒温器能够旋转运动，和第二偏振元件，该第二偏振元件被布置在低温恒温器的内部，并且该第二偏振元件处于第一偏振元件和红外检测器之间并相对于低温恒温器是固定的。

在所提出的装置中，通过下述两个偏振元件来提供具有可变的偏振方向的线性偏振器的功能：第一偏振元件和第二偏振元件。