[发明专利]环境光探测器、探测器阵列及方法在审
申请号: | 201980044000.2 | 申请日: | 2019-06-28 |
公开(公告)号: | CN112352141A | 公开(公告)日: | 2021-02-09 |
发明(设计)人: | 华·武;安德烈·雷索夫 | 申请(专利权)人: | 奥斯兰姆奥普托半导体股份有限两合公司 |
主分类号: | G01J1/42 | 分类号: | G01J1/42;G01J1/44;G01J1/04 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 刘丹 |
地址: | 德国雷*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 环境 探测器 阵列 方法 | ||
1.一种环境光传感器,包括:
第一多个传感器元件,每个传感器元件被配置为响应于照明水平而提供信号;以及
第二多个参考元件,每个参考元件被配置为提供参考信号,并且每个参考元件都包括被配置为遮挡相应参考元件免于被照亮的阻挡元件,
其中,所述第一多个大于所述第二多个,并且所述第一多个传感器元件和所述第二多个参考元件布置成阵列,以及
其中,传感器元件和参考元件横向布置在共享至少一个公共第一触点的公共层基板上或之中。
2.根据权利要求1所述的环境光传感器,其中,用于所述参考元件的第二触点布置在所述参考元件的面向所述阻挡元件的表面上。
3.根据权利要求1或2所述的环境光传感器,其中,用于所述传感器元件的第二触点布置在所述传感器元件的面向所述阻挡元件的表面上。
4.根据权利要求1至3中的任一项所述的环境光传感器,其中,所述公共触点布置在所述公共层基板的背离所述阻挡元件的表面上。
5.根据权利要求2所述的环境光传感器,其中,用于所述传感器元件和/或所述参考元件的所述第二触点布置在公共层基板的背离所述阻挡元件的表面上。
6.根据权利要求1至5中的任一项所述的环境光传感器,其中,对于所述光传感器的俯视图,所述阻挡元件大于所述相应参考元件。
7.根据权利要求1至6中的任一项所述的环境光传感器,其中,所述阻挡元件在所述第一多个传感器元件中的传感器元件上与所述参考元件相邻的一部分上延伸。
8.根据权利要求7所述的环境光传感器,其中,所述传感器元件的被所述阻挡元件覆盖的部分在所述传感器元件的总传感器面积的5%至50%之间。
9.根据权利要求1至8中的任一项所述的环境光传感器,其中,所述第一多个是第二多个的4倍。
10.根据权利要求1至9中的任一项所述的环境光传感器,其中,所述传感器元件和所述参考元件各自包括p掺杂层、n掺杂层以及它们之间的有源区,所述有源区被配置为在被照亮时产生所述信号。
11.根据权利要求1至10中的任一项所述的环境光传感器,其中,所述传感器元件和/或所述参考元件各自包括布置在公共基板中的阱,以在所述阱和所述公共基板之间形成有源层。
12.根据权利要求1至11中的任一项所述的环境光传感器,其中,所述阻挡元件被布置成与所述参考元件的主表面在远侧隔开。
13.根据权利要求1至11中的任一项所述的环境光传感器,其中,所述传感器元件和所述参考元件被布置成阵列,使得沿着所述阵列的边缘的传感器元件和参考元件的比率对应于所述第一多个和所述第二多个之间的比率。
14.一种具有电流镜的环境光探测器,所述电流镜包括:
第一电流路径中的第一多个光电二极管;
第二电流路径中的第二多个暗电流二极管,所述第二多个与所述第一多个不同;
所述第一电流路径中的镜像晶体管和所述第二电流路径中的参考晶体管,
其中,所述镜像晶体管和所述参考晶体管包括与所述第一多个和所述第二多个之间的比率相对应的参数比率,以及
其中,所述第一多个光电二极管和所述第二多个暗电流二极管横向地布置在公共基板中或上。
15.根据权利要求14所述的环境光探测器,还包括:
补偿装置,用于响应于数字失配补偿信号而在所述第一电流路径和所述第二电流路径中的至少一者中提供补偿电流。
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