[发明专利]磨损监测装置和滚珠螺杆有效

专利信息
申请号: 201980044055.3 申请日: 2019-06-19
公开(公告)号: CN112352136B 公开(公告)日: 2022-06-07
发明(设计)人: 克劳迪娅·格兰斯柯;塞巴斯蒂安·韦伯 申请(专利权)人: 森斯泰克有限责任公司
主分类号: G01B7/12 分类号: G01B7/12;F16H57/01
代理公司: 北京汇思诚业知识产权代理有限公司 11444 代理人: 齐梦雅;王刚
地址: 德国韦*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 磨损 监测 装置 滚珠 螺杆
【权利要求书】:

1.一种磨损监测装置(10),用于具有一系列铁磁滚动元件(22)的机器元件,所述磨损监测装置(10)用于所述滚动元件(22)的磨损监测,所述磨损监测装置(10):具有用于产生测量磁场的至少一个磁体(12);具有用于测量所述测量磁场的通量密度的磁场传感器布置(14),所述磁场传感器布置(14)具有用于在第一测量位置测量所述通量密度的至少一个第一磁场传感器(16)和用于在距所述第一测量位置一定距离的第二测量位置测量所述通量密度的第二磁场传感器(18),所述测量位置被选择为使得在所述机器元件沿循环方向U的操作期间,循环的滚动元件(22)彼此紧密接触地经过所述测量位置,并且由此引起的所述测量磁场的变化在所述测量位置中的一个处能够由相应的第一或第二 磁场传感器(16、18)进行检测;并且,具有连接到所述磁场传感器布置(14)的评估单元,用于记录和评估由所述第一和第二 磁场传感器(16、18)测量的所述通量密度,所述评估单元被配置为基于由所述第一和第二 磁场传感器(16、18)测量的所述通量密度的比较来确定所述滚动元件(22)的直径和/或直径变化,其特征在于,所述评估单元被配置用于记录和评估由所述第一和第二 磁场传感器(16、18)测量的所述通量密度的周期时间路径,并且在于,由所述第一和第二 磁场传感器(16、18)测量的所述通量密度的比较包括:确定由所述第一和第二 磁场传感器(16、18)测量的所述通量密度的所述周期时间路径之间的相位差。

2.根据权利要求1所述的磨损监测装置(10),其特征在于,确定所述滚动元件(22)的直径变化包括确定重心之间的距离。

3.根据权利要求2所述的磨损监测装置(10),其特征在于,确定所述滚动元件(22)的直径变化包括确定所述滚动元件(22)的至少一个子集上的所述距离的平均值。

4.根据前述权利要求中任一项所述的磨损监测装置(10),其特征在于,所述测量位置之间的所述距离小于所述滚动元件(22)的标称直径。

5.根据权利要求4所述的磨损监测装置(10),其特征在于,所述测量位置之间的所述距离小于所述标称直径的一半。

6.根据权利要求4所述的磨损监测装置(10),其特征在于,所述测量位置之间的所述距离等于所述标称直径的四分之一。

7.根据权利要求1所述的磨损监测装置(10),其特征在于,所述第一磁场传感器(16)和所述第二磁场传感器(18)各自包括具有两个半桥(16a、16b、18a、18b)的测量桥,第一和第二 所述磁场传感器(16、18)的所述半桥(16a、16b、18a、18b)在所述循环方向U上布置成嵌套的且相对于彼此偏移。

8.根据权利要求7所述的磨损监测装置(10),其特征在于,

每个半桥(16a、16b、18a、18b)的磁阻桥电阻器(28 )在所述循环方向U上间隔一定距离。

9.根据权利要求7所述的磨损监测装置(10),其特征在于,相邻半桥(16a、18a、16b、18b)之间的距离对应于滚动元件(22)的所述直径的大约四分之一,第一和第二 磁场传感器(16、18)的每个半桥(16a、16b、18a、18b)的两个磁阻桥电阻器(28)之间的距离对应于滚动元件(22)的所述直径的大约一半。

10.根据权利要求1所述的磨损监测装置(10),其特征在于,所述磁体(12)被设计为永磁体,其磁场覆盖所述测量位置。

11.根据权利要求1所述的磨损监测装置(10),其特征在于,所述磨损监测装置(10)包括用于所述滚动元件(22)的引导通道(20),所述磁场传感器布置(14)和所述磁体(12)布置在所述引导通道(20)的扫描壁(24)上。

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