[发明专利]反应处理装置在审

专利信息
申请号: 201980044608.5 申请日: 2019-06-26
公开(公告)号: CN112400106A 公开(公告)日: 2021-02-23
发明(设计)人: 小木秀也;福泽隆 申请(专利权)人: 日本板硝子株式会社
主分类号: G01N21/64 分类号: G01N21/64;G01N21/05;G01N37/00;C12M1/00
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 韩香花;崔成哲
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 反应 处理 装置
【权利要求书】:

1.一种反应处理装置,其特征在于,包括:

反应处理容器,其具备在第1主表面形成有供样本移动的流路的基板,和密封所述流路地设于所述第1主表面上的流路密封薄膜,

第1光学头,其具备使第1激发光照射所述流路中的样本,并对通过所述第1激发光的照射而从样本产生的第1荧光进行聚光的第1物镜,

第2光学头,其具备使第2激发光照射所述流路中的样本,并对通过所述第2激发光的照射而从样本产生的第2荧光进行聚光的第2物镜,以及

保持构件,其保持所述第1光学头及所述第2光学头;

在所述反应处理装置中,

所述第1光学头及所述第2光学头被沿所述流路的长度方向并列配置,

所述第1荧光的波长范围和所述第2激发光的波长范围的至少一部分重叠,

所述第1物镜的光轴和所述第2物镜的光轴之间的距离P满足以下式:

2·P0+2·P1+4·P2+4·P3P

其中,L为从所述保持构件到所述流路密封薄膜的距离,t1为所述流路密封薄膜的厚度,t2为所述流路的深度,t3为从所述流路的底部到所述基板的第2主表面的厚度,NA为所述第1物镜及所述第2物镜的数值孔径,n1为所述流路密封薄膜的折射率,n3为所述基板的折射率。

2.如权利要求1所述的反应处理装置,其特征在于,

所述距离P进而满足1.1×(2·P0+2·P1+4·P2+4·P3)≤P,且进而优选满足1.2×(2·P0+2·P1+4·P2+4·P3)≤P。

3.如权利要求1或2所述的反应处理装置,其特征在于,

所述距离P满足P≤S-2×△S,其中,S为配置所述第1光学头及所述第2光学头的流路的直线部分的长度,△S为1mm。

4.如权利要求1至3的任意一项所述的反应处理装置,其特征在于,

在所述基板的所述流路的底部与所述第2主表面之间,包括吸收激发光的光吸收层。

5.一种反应处理装置,其特征在于,包括:

反应处理容器,其具备在第1主表面形成有供样本移动的流路的基板,和密封所述流路地设于所述第1主表面上的流路密封薄膜,

第1光学头,其具备使第1激发光照射所述流路中的样本,并对通过所述第1激发光的照射而从样本产生的第1荧光进行聚光的第1物镜,

第2光学头,其具备使第2激发光照射所述流路中的样本,并对通过所述第2激发光的照射而从样本产生的第2荧光进行聚光的第2物镜,以及

保持构件,其保持所述第1光学头及所述第2光学头;

在所述反应处理装置中,

所述第1光学头及所述第2光学头被沿所述流路的长度方向并列配置,

所述第1荧光的波长范围和所述第2激发光的波长范围的至少一部分重叠,

所述基板设有吸收激发光的光吸收层。

6.如权利要求5所述的反应处理装置,其特征在于,

所述光吸收层被以满足吸收系数α为α≥0.58/t3’的方式形成,其中,t3’为所述光吸收层的厚度。

7.如权利要求5所述的反应处理装置,其特征在于,

所述光吸收层被以满足吸收系数α为α≥0.75/t3’的方式形成,其中,t3’为所述光吸收层的厚度。

8.如权利要求5所述的反应处理装置,其特征在于,

所述光吸收层被以满足吸收系数α为α≥1.15/t3’的方式形成,其中,t3’为所述光吸收层的厚度。

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