[发明专利]测量装置

权利要求书

1.一种用于测量具有表面的物体的至少一部分的尺寸和/或形状变化的测量装置，其特征在于，包括:

第一部件，其用于附接至上述物体；

第二部件，其具有可相对于所述第一部件的第一部分移动的第一部分；和

判断装置，用于判断由所述物体变化引起的所述第二部件的第一部分相对于所述第一部件的第一部分的位移，

其中所述位移用于测量所述物体尺寸和/或形状的变化。

2.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于，至少所述第一部件的第一部分位于所述第二部件的第一部分的上方或下方。

3.根据权利要求1或2所述的测量装置，其特征在于，所述判断装置设置在所述第一和第二部件中的至少一个上。

4.根据权利要求1、2或3所述的测量装置，其特征在于，所述第一和第二部件连接。

5.根据前述任一权利要求所述的测量装置，其特征在于，所述第二部件具有第二部分，所述第二部分被固定以防止相对于所述第一部件移动。

6.根据前述任一权利要求所述的测量装置，其特征在于，所述第二部件的第一部分滑动连接至所述第一部件。

7.根据前述任一权利要求所述的测量装置，其特征在于，至少所述第二部件的第一部分朝向所述第一部件偏置，和/或可选地或优选地，当所述测量装置附接至物体时，所述第一和第二部件被偏置以与物体接合。

8.根据权利要求7所述的测量装置，其特征在于，至少所述第二部件的第一部分偏置以与所述第一部件接合。

9.一种用于测量具有表面的物体的至少一部分的尺寸和/或形状变化的测量装置，其特征在于，所述测量装置包括:

用于附接至所述物体的第一部件，其中所述第一部件包括第一部分和第二部分，所述第一部分和第二部分被配置为当物体变化时允许它们之间的相对移动；

判断装置，用于判断由所述物体变化引起的所述第一和第二部分的相对位移，

其中所述位移用于测量物体尺寸和/或形状的变化。

10.根据前述任一权利要求所述的测量装置，其特征在于，具有以下情形中的一个或多个：

a)所述第一部件和第二部件各自的第一部分，或所述第一部件的第一和第二部分被偏置以阻止它们之间的相对移动；和

b)可选地或优选地，所述第一部件和所述第二部件各自的第一部分，或所述第一部件的第一和第二部分至少部分叠合。

11.根据前述任一权利要求所述的测量装置，其特征在于，所述判断装置包括设置在所述第一和第二部件/第一和第二部分中的一个上的第一元件，以及设置在所述第一和第二部件/第一和第二部分中的另一个上的第二元件，其中所述第一和第二元件可以配合以判断位移。

12.根据前述任一权利要求所述的测量装置，其特征在于，所述判断装置包括可连接至测量装置电源的电路，其中所述电路具有与位移联动以增大或减小的可变电阻。

13.根据权利要求12所述的测量装置，其特征在于，当其引用权利要求11时，所述第一和第二元件协作以形成电路。

14.根据权利要求12或13所述的测量装置，其特征在于，所述判断装置包括传感器设备，其中当所述第二部件的第一部分相对于所述第一部件的第一部分移动时，所述第一和第二元件配合以改变电路中已连接电阻器的数量，使得所述电路的电阻与位移联动。

15.根据前述任一权利要求所述的测量装置，其特征在于，所述第一部件/部分和/或第二部件/部分是可变形的以在使用期间随着所述物体表面的变形而变形，可选地或优选地，所述部件/部分是可弹性变形的。