[发明专利]微粒测量光谱仪、使用微粒测量光谱仪的微粒测量装置以及用于校正微粒测量光电转换系统的方法在审
申请号: | 201980044871.4 | 申请日: | 2019-06-07 |
公开(公告)号: | CN112368565A | 公开(公告)日: | 2021-02-12 |
发明(设计)人: | 原雅明;梅津友行;冈本好喜 | 申请(专利权)人: | 索尼公司 |
主分类号: | G01N15/14 | 分类号: | G01N15/14;G01J3/02;G01N21/64 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 吴孟秋 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 微粒 测量 光谱仪 使用 装置 以及 用于 校正 光电 转换 系统 方法 | ||
1.一种微粒测量光谱仪,包括:
分光元件,对从流经流路的微粒发出的光进行分光;以及
光电转换阵列,包括具有不同检测波长范围的多个光接收元件,并且所述光电转换阵列将由所述光接收元件获得的光信息转换成电信息,其中,
当每单位波长的光量相同的光入射时,所述光电转换阵列的所有通道的输出是均匀的。
2.根据权利要求1所述的微粒测量光谱仪,其中,
在总增益被设置为任意值的状态下,所述光电转换阵列校正每个通道的独立增益,使得当所述独立增益被设置为相同值时,光电转换增益变得最小的通道的光电转换增益等于所有通道中的另一通道的光电转换增益。
3.根据权利要求2所述的微粒测量光谱仪,其中,
所述光电转换阵列相对于所述总增益的每个设定值,校正每个通道的所述独立增益。
4.根据权利要求1所述的微粒测量光谱仪,其中,
所述光电转换阵列基于流经流路的发射预定波长范围宽度的荧光的荧光参考粒子的光信息,调整每个通道的独立增益。
5.根据权利要求1所述的微粒测量光谱仪,其中,
所述光电转换阵列基于流经流路的发射预定波长范围宽度的荧光的荧光参考粒子的光信息,使用校正系数调整每个通道的输出值。
6.根据权利要求1所述的微粒测量光谱仪,其中,
所述光电转换阵列基于流经流路的待测量的微粒的光信息,调整每个通道的独立增益。
7.根据权利要求1所述的微粒测量光谱仪,除了所述光电转换阵列之外,还包括:光电转换单元,所述光电转换单元包括光接收元件并且所述光电转换单元将由所述光接收元件获得的光信息转换成电信息,其中,
当每单位波长的光量相同的光入射时,所述光电转换阵列的所有通道的输出和所述光电转换单元的通道的输出是均匀的。
8.根据权利要求7所述的微粒测量光谱仪,包括:多个所述光电转换单元。
9.根据权利要求1所述的微粒测量光谱仪,包括:多个所述光电转换阵列,其中,
当每单位波长的光量相同的光入射时,所有光电转换阵列的所有通道的输出是均匀的。
10.一种微粒测量装置,包括:
微粒测量光谱仪,包括:
分光元件,对从流经流路的微粒发出的光进行分光;以及
光电转换阵列,包括具有不同检测波长范围的多个光接收元件,并且所述光电转换阵列将由所述光接收元件获得的光信息转换成电信息,其中,
当每单位波长的光量相同的光入射时,所述光电转换阵列的所有通道的输出是均匀的。
11.一种用于校正微粒测量光电转换系统的方法,所述方法包括:
利用具有不同检测波长范围的多个光接收元件,接收从流经流路的微粒发出的光;并且
将由所述光接收元件获得的光信息转换成电信息,其中,
当每单位波长的光量相同的光入射时,所有通道的输出是均匀的。
12.根据权利要求11所述的用于校正微粒测量光电转换系统的方法,所述方法执行:
最小通道确定过程,用于搜索光电转换增益变得最小的通道;以及
独立增益调整过程,用于调整每个通道的独立增益,使得所有通道的光电转换增益变得等于最小通道的光电转换增益,其中,
当每单位波长的光量相同的光入射时,所有通道的输出是均匀的。
13.根据权利要求11所述的用于校正微粒测量光电转换系统的方法,其中,所述微粒测量光电转换系统的总增益和每个通道的独立增益被校正,以获得与作为参考的微粒测量参考装置相同的测量结果。
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