[发明专利]光测距装置在审

专利信息
申请号: 201980045304.0 申请日: 2019-06-18
公开(公告)号: CN112368596A 公开(公告)日: 2021-02-12
发明(设计)人: 山田仁;帆足善明;水野文明;尾崎宪幸;植野晶文 申请(专利权)人: 株式会社电装
主分类号: G01S7/481 分类号: G01S7/481;G01S7/484
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 舒艳君;王海奇
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 测距 装置
【权利要求书】:

1.一种光测距装置,其中,

所述光测距装置(10、10B)具备:

发光元件(18),其中,照射光的多个发光部(16)以在相邻的所述发光部之间设置间隙的方式排列;

透过部(32、90),供所述光透过;

驱动部(34、34B),变更所述发光元件与所述透过部之间的位置关系;以及

受光部(12),接收反射的所述光,

通过由所述驱动部变更所述发光元件与所述透过部之间的位置关系,来沿着所述排列的方向变更所述光的照射路径。

2.根据权利要求1所述的光测距装置(10),其中,

所述透过部是使所述光成为大致平行光的出射透镜,

所述驱动部驱动所述透过部。

3.根据权利要求1所述的光测距装置(10B),其中,

所述光测距装置还具备使所述光成为大致平行光的出射透镜,

所述驱动部驱动所述透过部。

4.根据权利要求3所述的光测距装置,其中,

在所述透过部与所述发光元件之间设置有出射透镜。

5.根据权利要求3或4所述的光测距装置,其中,

基于对所述透过部的驱动的所述照射路径的变动宽度(W)大于0μm且在100μm以下。

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