[发明专利]光测距装置在审
申请号: | 201980045304.0 | 申请日: | 2019-06-18 |
公开(公告)号: | CN112368596A | 公开(公告)日: | 2021-02-12 |
发明(设计)人: | 山田仁;帆足善明;水野文明;尾崎宪幸;植野晶文 | 申请(专利权)人: | 株式会社电装 |
主分类号: | G01S7/481 | 分类号: | G01S7/481;G01S7/484 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 舒艳君;王海奇 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测距 装置 | ||
1.一种光测距装置,其中,
所述光测距装置(10、10B)具备:
发光元件(18),其中,照射光的多个发光部(16)以在相邻的所述发光部之间设置间隙的方式排列;
透过部(32、90),供所述光透过;
驱动部(34、34B),变更所述发光元件与所述透过部之间的位置关系;以及
受光部(12),接收反射的所述光,
通过由所述驱动部变更所述发光元件与所述透过部之间的位置关系,来沿着所述排列的方向变更所述光的照射路径。
2.根据权利要求1所述的光测距装置(10),其中,
所述透过部是使所述光成为大致平行光的出射透镜,
所述驱动部驱动所述透过部。
3.根据权利要求1所述的光测距装置(10B),其中,
所述光测距装置还具备使所述光成为大致平行光的出射透镜,
所述驱动部驱动所述透过部。
4.根据权利要求3所述的光测距装置,其中,
在所述透过部与所述发光元件之间设置有出射透镜。
5.根据权利要求3或4所述的光测距装置,其中,
基于对所述透过部的驱动的所述照射路径的变动宽度(W)大于0μm且在100μm以下。
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