[发明专利]测量装置、测量系统、测量程序以及测量方法

权利要求书

1.一种反射特性的测量装置，其特征在于：

具备控制部，

所述控制部构成为基于对象信息和指令信息来测量对象物的反射特性，

所述对象信息是包含与入射光的光源位置、反射光的光检测位置和所述对象物中的测量部位的坐标位置关系以及所述入射光和所述反射光有关数值的信息，

所述入射光是被照射至所述测量部位的光，所述反射光是由所述入射光被照射至所述测量部位然后从所述测量部位反射的光，

所述指令信息是与所述反射特性的已知测量结果有关的信息，

所述对象信息所包含的所述坐标位置关系的组合数为1～15。

2.如权利要求1所述的测量装置，其特征在于：

还具备光源和光检测部，

所述光源照射所述入射光，所述光检测部构成为检测所述反射光。

3.如权利要求1或2所述的测量装置，其特征在于：

还具备通信部，所述通信部构成为将所述对象信息、所述指令信息以及包含所述反射特性的信息中的至少一个输出至外部设备。

4.如权利要求1至3中任一项所述的测量装置，其特征在于：

所述控制部构成为可基于所述反射特性来生成计算机图形。

5.如权利要求1至4中任一项所述的测量装置，其特征在于：

所述组合数为2～10。

6.如权利要求1至5中任一项所述的测量装置，其特征在于：

所述组合数为3～6。

7.如权利要求1至6中任一项所述的测量装置，其特征在于：

所述控制部通过机器学习来推定测量所述反射特性，

所述机器学习输入所述对象信息，将所述指令信息作为指令数据，并输出所述反射特性。

8.如权利要求7所述的测量装置，其特征在于：

所述反射特性被表示为以Rushinkieviz坐标系中的θ_h、θ_d、为变量的函数f在所述机器学习中，包含将变换为将θ_h变换为sinθ_h、将θ_d变换为cosθ_d的处理。

9.如权利要求1至8中任一项所述的测量装置，其特征在于：

所述控制部构成为基于所述对象物的光泽度来测量所述反射特性。

10.如权利要求9所述的测量装置，其特征在于：

所述控制部通过输入了所述光泽度的第1机器学习来推定测量作为所述反射特性一部分的部分反射特性，

通过输入了所述部分反射特性的第2机器学习来推定测量所述反射特性。

11.如权利要求1至10中任一项所述的测量装置，其特征在于：

所述反射特性包含呈现光泽的镜面反射成分和与颜色信息关联的漫反射成分。

12.一种反射特性的测量系统，其特征在于：

具备测量装置和信息处理装置，

所述测量装置具备光源和光检测部，

所述光源向对象物的测量部位照射入射光，

所述光检测部构成为检测由所述入射光被照射至所述测量部位然后从所述测量部位反射的反射光，

所述测量装置以及所述信息处理装置中的至少一方还具备控制部，

所述控制部构成为基于对象信息和指令信息来测量所述对象物的反射特性，

所述对象信息是包含与所述光源、所述光检测部和所述测量部位的坐标位置关系以及所述入射光和所述反射光有关数值的信息，所述指令信息是与所述反射特性的已知测量结果有关的信息，所述对象信息所包含的所述坐标位置关系的组合数为1～15，

所述测量装置以及所述信息处理装置构成为经由网络彼此发送和接收所述对象信息、所述指令信息以及包含所述反射特性的信息中的至少一个。