[发明专利]波长偏移片耦合的闪烁检测器

权利要求书

1.一种X射线检测器，包括：

至少一个闪烁体屏幕，被配置为吸收入射的X射线并发射相应的光射线；

波长偏移片(WSS)，与所述至少一个闪烁体屏幕光学耦合，并被配置为收集和光谱偏移所述光射线，其中，所述WSS具有至少一个边缘；

至少一根波长偏移光纤(WSF)，与所述WSS的所述至少一个边缘光学耦合，并被配置为收集所述光谱偏移的光射线，并对所收集的光谱偏移的光射线进行光谱偏移，以生成两次光谱偏移的光射线；以及

光电检测器，与所述WSF光学耦合，并被配置为接收和检测所述两次光谱偏移的光射线。

2.根据权利要求1所述的X射线检测器，其中，所述WSS包括第一表面和第二表面，并且其中，所述至少一个闪烁体屏幕至少部分地覆盖所述第一表面，并且第二闪烁体屏幕至少部分地覆盖所述第二表面。

3.根据权利要求2所述的X射线检测器，其中，所述第一表面与所述第二表面共面。

4.根据权利要求1所述的X射线检测器，其中，所述至少一个WSF与所述WSS的所述边缘的至少一部分物理地耦合。

5.根据权利要求1所述的X射线检测器，其中，所述光电检测器是光电倍增管(PMT)。

6.根据权利要求1所述的X射线检测器，还包括覆盖所述WSF的反射器材料，以改善光谱偏移的光射线的收集。

7.根据权利要求6所述的X射线检测器，其中，所述反射器材料包括漫反射器和镜面反射器材料中的至少一种。

8.根据权利要求1所述的X射线检测器，其中，所述至少一个闪烁体屏幕包括具有光吸收长度的材料，并且其中，所述至少一个闪烁体屏幕的厚度小于所述光吸收长度。

9.根据权利要求1所述的X射线检测器，其中，所述至少一个闪烁体屏幕包括BaFCI:Eu。

10.根据权利要求1所述的X射线检测器，还包括插入在所述至少一个闪烁体屏幕和所述WSS之间的空间变化的衰减材料，其中，所述空间变化的衰减材料被配置为校正所述光电检测器的检测中的不均匀性。

11.根据权利要求10所述的X射线检测器，其中，所述空间变化的衰减材料包括塑料基板印刷片，在所述塑料基板印刷片的表面上具有吸收墨。

12.根据权利要求1所述的X射线检测器，其中，通过将所述至少一个闪烁体屏幕放置在所述WSS的表面上，所述至少一个闪烁体屏幕与所述WSS耦合，并且其中，所述至少一个闪烁体屏幕至少部分地覆盖所述表面。

13.一种被配置为检测X射线的X射线检测器，所述检测器包括：

至少一个闪烁体屏幕，被配置为吸收入射的X射线并基于所吸收的入射的X射线发射光射线；

第一波长偏移片(WSS1)，与被配置为使所述光射线的光谱偏移的所述至少一个闪烁体屏幕耦合，其中，所述WSS1包括至少一个边缘；

第二波长偏移片(WSS2)，与所述WSS1的至少一个边缘耦合，并被配置为收集光谱偏移的光射线；以及

光电检测器，被配置为检测所收集的光谱偏移的光射线，其中，所述光电检测器与所述WSS2光通信。

14.根据权利要求13所述的X射线检测器，其中，所述WSS1包括第一表面和第二表面；并且其中，所述至少一个闪烁体屏幕部分覆盖所述第一表面，并且第二闪烁体屏幕部分覆盖所述第二表面。

15.根据权利要求14所述的X射线检测器，其中，所述第一表面与所述第二表面共面。

16.根据权利要求13所述的X射线检测器，其中，所述光电检测器是光电倍增管(PMT)。