[发明专利]用于确定线状物体的直径和/或外轮廓的设备

权利要求书

1.用于确定线状物体(10)的直径和/或外轮廓的设备，所述设备包括至少一个发射装置，用于将测量辐射(18)发出到线状物体(10)上，所述测量辐射(18)由线状物体(10)反射，所述设备还包括至少一个接收装置，用于接收由所述至少一个发射装置发出并由线状物体(10)反射的测量辐射(18)，并且所述设备包括评估装置(30)，所述评估装置设置成用于，根据由所述至少一个接收装置接收的测量辐射(18)确定线状物体(10)的直径和/或外轮廓，其特征在于，设有至少一个至少局部地包围所述线状物体(10)的回射器(12)，所述回射器使由线状物体(10)反射的测量辐射(18)完全地或部分地回射。

2.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，至少一个发射装置和至少一个接收装置基本上设置在相同的位置处。

3.根据前述权利要求之一所述的设备，其特征在于，至少一个发射装置和至少一个接收装置由至少一个收发器(14)形成。

4.根据前述权利要求之一所述的设备，其特征在于，设有多个在线状物体(10)的周边上分布设置的发射装置和多个在线状物体(10)的周边上分布设置的接收装置。

5.根据权利要求4所述的设备，其特征在于，设有至少三个在线状物体(10)的周边上分布设置的发射装置和至少三个在线状物体(10)的周边上分布设置的接收装置，并且所述评估装置设置成用于，由对由所述至少三个接收装置接收的测量辐射的比较得出线状物体(10)的表面缺陷的位置。

6.根据前述权利要求之一所述的设备，其特征在于，设有至少两个接收装置和至少一个设置在所述至少两个接收装置之间的发射装置，并且所述评估装置设置成用于，由对由接收装置接收的测量辐射的时间比较得出线状物体的表面缺陷的位置。

7.根据前述权利要求之一所述的设备，其特征在于，所述至少一个回射器(12)在横截面中至少局部地构造成圆形的。

8.根据前述权利要求之一所述的设备，其特征在于，所述至少一个回射器(12)的横截面至少局部地不同于圆形。

9.根据前述权利要求之一所述的设备，其特征在于，所述至少一个回射器(12)包括多个在径向方向上相互错开、优选是分级错开地设置的反射器部段。

10.根据前述权利要求之一所述的设备，其特征在于，所述至少一个回射器(12)包括多个反射器部段，所述多个反射器部段关于所述至少一个发射装置和所述至少一个接收装置不对称地设置。

11.根据权利要求9或10之一所述的设备，其特征在于，所述多个反射器部段在横截面中分别是圆形的。

12.根据前述权利要求之一所述的设备，其特征在于，由所述至少一个发射装置发出的测量辐射(18)是太赫兹辐射或千兆赫兹辐射。